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Optisches Mikroskop MX63 series
LaborInspektionzur online-Wafer-Kontrolle

optisches Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
optisch
Anwendungsbereich
Labor, Inspektion, zur online-Wafer-Kontrolle
Beobachtungstechnik
Fluoreszenz, Dunkelfeld
Weitere Eigenschaften
modulares, ergonomisch, für Halbleiter, für große Probe, für Wafer
Räumliche Auflösung

1 µm

Beschreibung

Die Mikroskopsysteme MX63 und MX63L sind für die hochwertige Inspektion von Wafern bis 300 mm Größe, Flachbildschirmen, Leiterplatten und anderen großen Proben optimiert. Der modulare Aufbau ermöglicht es Ihnen, die Komponenten auszuwählen, die Sie benötigen, um das System an Ihre Anwendung anzupassen. Diese ergonomischen und benutzerfreundlichen Mikroskope tragen dazu bei, den Durchsatz zu erhöhen und den Inspektor bei seiner Arbeit komfortabel zu halten. In Kombination mit der Bildanalysesoftware OLYMPUS Stream kann der gesamte Workflow von der Beobachtung bis zur Berichterstellung vereinfacht werden.

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 Apr. 2024 Stuttgart (Deutschland) Halle 8 - Stand 8403

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.