Optisches Profilometer LEXT OLS5500
Laser-Rastermit Weißlichtinterferometrie

Optisches Profilometer - LEXT OLS5500 - Evident - Olympus Scientific Solutions - Laser-Raster / mit Weißlichtinterferometrie
Optisches Profilometer - LEXT OLS5500 - Evident - Olympus Scientific Solutions - Laser-Raster / mit Weißlichtinterferometrie
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Eigenschaften

Technologie
optisch, Laser-Raster, mit Weißlichtinterferometrie

Beschreibung

Produktübersicht
  • Das hybride 3D-Optische Profilometer LEXT™ OLS5500 vereint Laserscanning-Mikroskopie (LSM), Weißlicht-Interferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer leistungsstarken Plattform.

Hauptmerkmale
  • Hybrides 3D-Optisches Profilometer
  • Kombiniert LSM-, WLI- und FVM-Technologien

Merkmale / technische Spezifikationen
  • Produkttyp: 3D-Optisches Profilometer
  • Modell: LEXT OLS5500
  • Technologien: Laserscanning-Mikroskopie (LSM), Weißlicht-Interferometrie (WLI), Fokusvariationsmikroskopie (FVM)

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IMTS 2026
IMTS 2026

14-19 Sep. 2026 Chicago (USA - Illinois) Halle East Level 3 - Stand 134546

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.