- Metrologie - Labor
- Metrologie und Materialprüfung
- Laser-Profilometer
- Evident - Olympus Scientific Solutions
Optisches Profilometer LEXT OLS5500Laser-Rastermit Weißlichtinterferometrie
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
Eigenschaften
- Technologie
- optisch, Laser-Raster, mit Weißlichtinterferometrie
Beschreibung
Produktübersicht
Hauptmerkmale
Merkmale / technische Spezifikationen
- Das hybride 3D-Optische Profilometer LEXT™ OLS5500 vereint Laserscanning-Mikroskopie (LSM), Weißlicht-Interferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer leistungsstarken Plattform.
Hauptmerkmale
- Hybrides 3D-Optisches Profilometer
- Kombiniert LSM-, WLI- und FVM-Technologien
Merkmale / technische Spezifikationen
- Produkttyp: 3D-Optisches Profilometer
- Modell: LEXT OLS5500
- Technologien: Laserscanning-Mikroskopie (LSM), Weißlicht-Interferometrie (WLI), Fokusvariationsmikroskopie (FVM)
Kataloge
Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.
Alle Kataloge von Evident - Olympus Scientific Solutions anzeigenWeitere Produkte von Evident - Olympus Scientific Solutions
Materialwissenschaft und Industriemikroskope
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.
Über DirectIndustry
DirectIndustry ist ein Marktplatz, der B2B-Akteuren ein umfassendes Erlebnis bietet, von der Produktbeschaffung bis zum Kauf. DirectIndustry ist eine Einheit der VirtualExpo Group.
Sind Sie Käufer?
Sind Sie Lieferant?