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Optisches Profilometer LEXT OLS5500Laser-Rastermit Weißlichtinterferometrie
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Eigenschaften
- Technologie
- optisch, Laser-Raster, mit Weißlichtinterferometrie
Beschreibung
Produktübersicht
Hauptmerkmale
Merkmale / technische Spezifikationen
- Das hybride 3D-Optische Profilometer LEXT™ OLS5500 vereint Laserscanning-Mikroskopie (LSM), Weißlicht-Interferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer leistungsstarken Plattform.
Hauptmerkmale
- Hybrides 3D-Optisches Profilometer
- Kombiniert LSM-, WLI- und FVM-Technologien
Merkmale / technische Spezifikationen
- Produkttyp: 3D-Optisches Profilometer
- Modell: LEXT OLS5500
- Technologien: Laserscanning-Mikroskopie (LSM), Weißlicht-Interferometrie (WLI), Fokusvariationsmikroskopie (FVM)
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