Mikroskop / SAM für Wafer SAM 300

für Analysefür ForschungszweckeIndustrie

Das SAM 300 ist ein für hohen Durchsatz entwickeltes Ultraschall-Rastermikroskop für Qualitäts- und Prozesskontrolle sowie Forschungsanwendungen. Es ermöglicht detaillierte akustische Messungen und Analysen durch neue Hochfrequenz- und Transducer-Technologien bis zu 400 MHz. Eine graphische Benutzeroberfläche gewährleistet einfache Bedienung und applikative Flexibilität. Das SAM 300 ist auf einer Komponentenplattform nach Industriestandards aufgebaut, unter Nutzung modernster Produktions- und Forschungstechnologien. Der Scan-Bereich des SAM 300 beträgt in x; y; 320 mm x 320 mm. Die Probenwanne und der Scanner können nach Kundenanforderung angepasst werden.