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Mikroskope zur Materialuntersuchuing
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Vergrößerung: 5 unit - 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 2,5, 0,9 nm
... Die Hitachi SU3800SE und SU3900SE SEMs bieten vielseitige Bildgebungs- und Analyselösungen für verschiedene Anwendungen. Diese Geräte bieten hochauflösende Bildgebung, intuitive Navigation und fortschrittliche Automatisierung und liefern ...
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...
Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5, 15 nm
... Das FlexSEM 1000 II VP-SEM kombiniert innovative technologische Funktionen mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, um Anpassungsfähigkeit und Flexibilität in einem leistungsstarken, automatisierten und laborfreundlichen Paket zu bieten. ...
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 µm - 10 µm
... Phenom XL G2 Desktop SEM Anwendungen Das Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) der nächsten Generation automatisiert Ihren Qualitätskontrollprozess und liefert genaue, reproduzierbare Ergebnisse, während ...
Vergrößerung: 50 unit - 2.000 unit
TIM5 wird weltweit in der Metallurgie und Materialwissenschaft eingesetzt. Mit TIM5 können feine Details untersucht, aufgezeichnet und dokumentiert werden, die eine genaue Inspektion und Bewertung möglich machen. Bei Legierungen, Kunststoffen, ...
Vergrößerung: 40 unit - 400 unit
Ein robustes Zoom-Stereomikroskop für die professionelle Untersuchung von Elektronik-, Feinmechanik-, Kunststoff- und Medizinprodukten. Es wird zur Inspektion, Montage, Analyse, beim Löten und Polieren und zur Feinbearbeitung benutzt ...
A. KRÜSS Optronic GmbH
Vergrößerung: 40 unit - 800 unit
Das Inversmikroskop MBL3200 ist speziell zur Identifizierung und Analyse biologischer Substanzen und Kulturen konzipiert. Die Objektive haben einen großen Arbeitsabstand, um z.B. Proben durch den Boden von Petrischalen hindurch sehen ...
A. KRÜSS Optronic GmbH
Vergrößerung: 40 unit - 800 unit
Das MBL3300 ist ein echter Spezialist in der Qualitätskontrolle in Industrie und im Labor: es eignet sich zur Identifizierung und Analyse von Stahlverbindungen und anderen Metallen. Ideal auch zur Qualitätsbestimmung, Rohmaterial- Analyse ...
A. KRÜSS Optronic GmbH
Vergrößerung: 10 unit - 220 unit
Mit dem Einsatz der USB 3.0-Verbindung ist das AM73115MZT in der Lage, gleichmäßige und qualitativ hochwertige Bilder zu erfassen. Die Optik der Edge-Serie und die besondere flexible LED-Steuerung (FLC) machen das AM73115MZT zur besten ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Vergrößerung: 10 unit - 140 unit
Mit dem Einsatz der USB 3.0-Verbindung ist das AM73115MZTL in der Lage, gleichmäßige und qualitativ hochwertige Bilder zu erfassen. Die Optik der Edge-Serie und die besondere flexible LED-Steuerung (FLC) machen das AM73115MZTL zur besten ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Vergrößerung: 10 unit - 220 unit
Das Dino-Lite AM73915MZT ist Teil der High Speed Real Time Reihe mit USB 3.0 Anschluss. Es bietet hervorragende unkomprimierte Bildqualität und Farbwiedergabe in einem robusten, kompakten und ansprechenden Metallgehäuse. USB 3.0 fügt ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
... Die Oberflächenmorphologie ist eine wichtige Eigenschaft für viele Hightech-Oberflächen mit Merkmalen bis zu wenigen Nanometern und einer Oberflächenrauheit von weniger als einem Nanometer. Das Nanite ist das Werkzeug der Wahl für die ...
... Das CoreAFM wurde entwickelt, um alle wesentlichen Elemente eines AFM in einem einfach zu bedienenden, integrierten Einzelgerät zu vereinen: einen modernen biegegeführten Scanner, einen XYZ-Probentisch, eine Kamera zur Probenbeobachtung, ...
Vergrößerung: 1 unit - 100 unit
Gewicht: 26 kg
Länge: 295 mm
Das Nikon ECLIPSE MA200 ist ein flexibles, modulares, inverses Mikroskop im innovativen Box-Design für episkopische optische Kontrastverfahren in Verbindung mit Zubehör für die digitale Bildverarbeitung. Es ist ideal für die Inspektion ...
Nikon Metrology
Hochauflösendes analytisches REM für routinemäßige Materialcharakterisierung, Forschung und Qualitätskontrolle im Submikrometerbereich Die 4. Generation des TESCAN MIRA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit einer FEG Schottky Elektronenemissionsquelle ...
Tescan GmbH
... Korrelative Mikroskopie: Kombination von optischen und SEM-Daten SEM mit EDX: JOMESA PSE -Liest Partikelinformationen aus der Datenbank schnelle SEM-EDX-Analyse von ausgewählten Partikeln -Wahlweise: Vollständiger Scan oder Scan aller ...
Räumliche Auflösung: 0,5 µm
... Anwendung: Es ist weit verbreitet in der mechanischen, Meter, elektronische und leichte Industrie, Universität, Institut und Metrologie-Abteilung verwendet. Der Messprofilprojektor kann die Kontur Dimension und Oberflächenform der Vielfalt ...
Räumliche Auflösung: 100 nm - 6.000.000 nm
Automatische Brinell-Messungen bieten Vertrauen in die Prüfergebnisse. Foundrax war weltweit das erste Unternehmen, das ein authentisches automatisches optisches Brinell-Messsystem angeboten hat, und besitzt mehr Erfahrung in diesem ...
Foundrax Engineering Products Ltd
... 4XC Metallographisches Mikroskop Dieses metallographische Mikroskop wird hauptsächlich zur Metallidentifikation und Analyse der internen Struktur von Unternehmen eingesetzt. Es ist das wichtige Gerät, das zur Untersuchung der Metallographie ...
Vergrößerung: 20 unit
Räumliche Auflösung: 0,01 mm
Handmikroskop zur mobilen Vermessung von Härteeindrücken • Einfache Handhabung • In jeder Position einsetzbar • Vermessung von Vickers- oder Brinell-Eindrücken • Ideales Zubehör für portable Brinell-Härteprüfgeräte oder Poldi Schlaghärteprüfer •Arbeitsabstand: ...
... Das computergestützte metallografische Mikroskop TIME-40MW ist ein trinokulares aufrechtes metallografisches Mikroskop. Dieses Gerät verfügt über eine hervorragende Abbildungsleistung und komfortable Bedienung und bietet Kunden kostengünstige ...
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