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Das Digitalmikroskop DVM6 revolutioniert die Mikroskopie mit seiner innovativen Kippoptik. Diese Spitzentechnologie ermöglicht es dem Benutzer, den Winkel der Optik mühelos einzustellen, was eine beispiellose Flexibilität und Vielseitigkeit bei der Beobachtung ...
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... SU9000 II, die einen Kaltfeldstrahler mit nahezu monochromatischer Emission mit einer "Inlens"-Objektivlinse kombiniert. Die Probe wird auf einem hochstabilen "Side-Entry"-Halter praktisch innerhalb der zweistufigen Objektivlinse platziert. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... intelligenter Steuerung langlebigen Wolfram-Haarnadelkathoden - Einfache Handhabung auch von nicht elektrisch leitfähigen Proben durch den integrierten effektiven Niedervakuum-Betriebsmodus, der bei Bedarf per Mausklick umgeschaltet ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 15 nm
... Kathodolumineszenz- und STEM-Bildgebung, optische Farbnavigationskamera und Kammeroskop verwendet werden - 5-Achsen-Probentisch für Proben bis zu max. 153mm Durchmesser und 40mm Höhe ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 657 mm
Breite: 251 mm
... Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und ...
... Das neue „Machine Vision Microscope“ (MVM) ist ein rein digitales Mikroskop mit allen Eigenschaften, die ein Mikroskop ausmachen. Es verfügt über ein apochromatisch hochkorrigiertes Mikroskopobjektiv sowie einer entsprechenden ...
... Mehrfachanalyse ausgestattet. Inverses Mikroskop der Einstiegsklasse für allgemeine Anwendungen zur Härteprüfung. Inverses Mikroskop für Industrie und Materialwissenschaft, speziell entwickelt für undurchsichtige Proben ...
... Probleme bei der Charakterisierung von transparenten oder anderweitig optisch schwer zu beurteilenden Proben lösen. Aber nicht nur die grobe Topographie einer Probe ist von Interesse: Mit AFM lassen sich auch andere Materialeigenschaften ...
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