Mikroskope für polierte Proben

... Objektivrevolvern wählen. Zusätzlich steht ein Makro-Objektiv mit einer 0,7-fachen Vergrößerung zur Verfügung, mit dem fast 40 mm der Probe auf einen Blick erfasst werden können. Das ist ideal für die schnelle Orientierung ...

... ) wird beim Einsatz des Leica DM8000 M nicht nur das Auflösungsvermögen, sondern auch der Durchsatz bei der Inspektion von Proben mit 8 Zoll/200 mm Durchmesser gesteigert. Die Beleuchtung basiert auf modernster LED-Technologie ...

... Optik, damit Sie sicher sein können, dass die beobachtete Doppelbrechung aus der Probe und nicht aus der Optik resultiert • - Eine LED-Beleuchtung ist wichtig, um die Probe homogen und mit konstanter ...

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Materialanalysen. Das SU9000 ist das neue Premium-SEM von HITACHI. Es verfügt über eine einzigartige Elektronenoptik, bei der die Probe in einem Spalt zwischen dem oberen und unteren Teil des Objektivpolstücks positioniert ...

Räumliche Auflösung: 1,2 nm

... Experten. - Die automatische Achsenjustierung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". - Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer nimmt große Proben auf (-200 mmφ, ...

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm

... großer Proben ermöglicht. 1.Erheblich größere Probenkammer für übergroße und schwere Proben ■Robuster Tisch für Flexibilität bei Probengröße, -form und -gewicht - Die Probenwechselsequenz verhindert ...

Das neue „Machine Vision Microscope“ (MVM) ist ein rein digitales Mikroskop mit allen Eigenschaften, die ein Mikroskop ausmachen. Es verfügt über ein apochromatisch hochkorrigiertes Mikroskopobjektiv ...

... Beschränkungen für Proben - Keine Die Qualitäts- und Prozesskontrolle erfordert häufig die Analyse größerer Teile oder Komponenten, die nicht in kleinere Segmente unterteilt werden können. Ganz gleich, ob es sich um ...

... Probleme bei der Charakterisierung von transparenten oder anderweitig optisch schwer zu beurteilenden Proben lösen. Aber nicht nur die grobe Topographie einer Probe ist von Interesse: Mit AFM lassen sich ...

... Mehrfachanalyse ausgestattet. Inverses Mikroskop der Einstiegsklasse für allgemeine Anwendungen zur Härteprüfung. Inverses Mikroskop für Industrie und Materialwissenschaft, speziell entwickelt für undurchsichtige ...