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Vergrößerung: 160 unit - 175.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 15 nm
... Desktop SEM ist wirtschaftlich und einfach zu bedienen und verfügt über zuverlässige Automatisierungsfunktionen. Das Thermo Scientific Phenom Pure Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein ideales Werkzeug für den Übergang von ...
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm
... perfekte Wahl, um detaillierte Informationen über die Probenoberfläche zu erhalten. Das SED kann bei Anwendungen, bei denen Topographie und Morphologie wichtig sind, von großem Nutzen sein. ...
Digitales Mikroskop für Fehleranalyse, Qualitätssicherung und -kontrolle, Forschung und Entwicklung oder Forensik. Die hervorragende Optik, die intuitive Bedienung und die intelligente Software ermöglichen es dem Anwender, ...
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Räumliche Auflösung: 1,2 nm
... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. - Die automatische Achsenjustierung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". - Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer nimmt große ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Die Oberflächenmorphologie ist eine wichtige Eigenschaft für viele Hightech-Oberflächen mit Merkmalen bis zu wenigen Nanometern und einer Oberflächenrauheit von weniger als einem Nanometer. Das Nanite ist das Werkzeug der Wahl für die ...
... Das CoreAFM wurde entwickelt, um alle wesentlichen Elemente eines AFM in einem einfach zu bedienenden, integrierten Einzelgerät zu vereinen: einen modernen biegegeführten Scanner, einen XYZ-Probentisch, eine Kamera zur Probenbeobachtung, ...
... Charakterisierung von transparenten oder anderweitig optisch schwer zu beurteilenden Proben lösen. Aber nicht nur die grobe Topographie einer Probe ist von Interesse: Mit AFM lassen sich auch andere Materialeigenschaften erfassen, ...
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 657 mm
Breite: 251 mm
Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert ...
Nikon Metrology
Vergrößerung: 10 unit - 5.480.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7 nm - 3 nm
... einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet ...
... Der Einsatz des Microhone® CNC-Werkzeug- und Schleifmittelsystems in einer agilen Umgebung ermöglicht auch eine bessere Beurteilung der Qualität und die Möglichkeit, Prozesse daraufhin zu testen, ob sie die Erwartungen des Kunden an das ...
Flexible Allround-Messlösung Dank des robusten Aufbaus und der Unempfindlichkeit gegenüber Umgebungseinflüssen ist das MarSurf CM explorer nicht nur für den Einsatz im Test- und Prüflabor geeignet, sondern auch für die Qualitätssicherung ...
MAHR
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