Mikroskope für Topographie

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Phenom Pure G6

Vergrößerung: 160 unit - 175.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 15 nm
Gewicht: 50 kg

... Zuverlässige und konsistente Ergebnisse auf Ihrem Desktop - automatisch Die Desktop-SEMs Phenom Pure, Pro und ProX G6 von Thermo Scientific sind wirtschaftliche und einfach zu bedienende Lösungen, die Ihnen einen Großteil der Arbeit abnehmen. Jedes Modell ...

SEM-Mikroskop
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Phenom ParticleX TC

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm
Gewicht: 75 kg

... Sauberkeit in der Industrie ist leichter gesagt als getan, insbesondere in anspruchsvollen Produktionsumgebungen wie der Automobilindustrie. Im Vergleich zu herkömmlichen Lichtmikroskopen ermöglicht unser Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop ...

digitales Mikroskop
digitales Mikroskop
DVM6

Das Digitalmikroskop DVM6 revolutioniert die Mikroskopie mit seiner innovativen Kippoptik. Diese Spitzentechnologie ermöglicht es dem Benutzer, den Winkel der Optik mühelos einzustellen, was eine beispiellose Flexibilität und Vielseitigkeit bei der Beobachtung ...

Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
SU3 series

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5, 1,6, 3, 15 nm

... Bei der SU3800/3900 VP-SEM-Familie liegt der Schwerpunkt auf der Produktivität. Diese Werkzeuge automatisieren sich wiederholende Aufgaben, sodass Sie in kurzer Zeit und mit geringem manuellem Aufwand reproduzierbare Ergebnisse erzielen können. Es stehen ...

Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
TM4000PlusIII

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Gewicht: 55, 53 kg
Länge: 614, 617 mm

Das TM4000 III wurde als logische Erweiterung der optischen Stereomikroskopie entwickelt und ist ein Einstiegsgerät für die Rasterelektronenmikroskopie. Es ermöglicht Ihnen, Proben in kürzester Zeit mit guter Auflösung, Tiefenschärfe und Kontrast zwischen ...

Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
FlexSEM II

Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4 nm
Gewicht: 107 kg

FlexSEM II ist ein Tisch-/Kompakt-SEM für Bildgebungsaufgaben, die über die Leistung herkömmlicher Tisch-SEMs hinausgehen. Es ist das ideale System für alle, die nicht in ein klassisches SEM investieren, aber auch keine Kompromisse bei der Abbildungsleistung ...

Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
JSM-IT810

... der Probenoberfläche und Live-EDX-Mappings zur Verfügung. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank des hohen Probenstromes ...

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optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
Eclipse LV100ND

Gewicht: 9,5 kg
Länge: 657 mm
Breite: 251 mm

... Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und ...

optisches Mikroskop
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UP-5000

Räumliche Auflösung: 0,01 nm

... Präzise, quantitative und ISO-konforme Analysesoftware für Studien mit Nanometerauflösung. Ein einzigartiges optisches Mikroskop Die 6-in-1-Kombination mehrerer optischer Techniken auf einer Plattform ermöglicht die Messung aller ...

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Rasterkraftmikroskop
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LensAFM

... Charakterisierung von transparenten oder anderweitig optisch schwer zu beurteilenden Proben lösen. Aber nicht nur die grobe Topographie einer Probe ist von Interesse: Mit AFM lassen sich auch andere Materialeigenschaften erfassen, ...

SEM-Mikroskop
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... Der Einsatz des Microhone® CNC-Werkzeug- und Schleifmittelsystems in einer agilen Umgebung ermöglicht auch eine bessere Beurteilung der Qualität und die Möglichkeit, Prozesse daraufhin zu testen, ob sie die Erwartungen des Kunden an das fertige Bauteil ...

optisches Mikroskop
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CM EXPLORER

... Flexible Allround-Messlösung Dank des robusten Aufbaus und der Unempfindlichkeit gegenüber Umgebungseinflüssen ist das MarSurf CM explorer nicht nur für den Einsatz im Test- und Prüflabor geeignet, sondern auch für die Qualitätssicherung in Produktionsumgebungen ...

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