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Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Das SU9000 II ist eine Kombination aus oberflächenabbildendem SEM und strukturauflösendem Rastertransmissionsmikroskop (STEM), die für eine extreme Auflösung optimiert ist. Ermöglicht wird dies durch die einzigartige Elektronenoptik des ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Bei der SU3800/3900 VP-SEM-Familie liegt der Schwerpunkt auf der Produktivität. Diese Werkzeuge automatisieren sich wiederholende Aufgaben, sodass Sie in kurzer Zeit und mit geringem manuellem Aufwand reproduzierbare Ergebnisse erzielen ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 15 nm
... FlexSEM II ist ein Tisch-/Kompakt-SEM für Bildgebungsaufgaben, die über die Leistung herkömmlicher Tisch-SEMs hinausgehen. Es ist das ideale System für alle, die nicht in ein klassisches SEM investieren, aber auch keine Kompromisse bei ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Digitales Mikroskop für Fehleranalyse, Qualitätssicherung und -kontrolle, Forschung und Entwicklung oder Forensik. Die hervorragende Optik, die intuitive Bedienung und die intelligente Software ermöglichen es dem Anwender, ...
Vergrößerung: 160 unit - 175.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 15 nm
... Desktop SEM ist wirtschaftlich und einfach zu bedienen und verfügt über zuverlässige Automatisierungsfunktionen. Das Thermo Scientific Phenom Pure Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein ideales Werkzeug für den Übergang von ...
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm
... perfekte Wahl, um detaillierte Informationen über die Probenoberfläche zu erhalten. Das SED kann bei Anwendungen, bei denen Topographie und Morphologie wichtig sind, von großem Nutzen sein. ...
Räumliche Auflösung: 0,01 nm
... Präzise, quantitative und ISO-konforme Analysesoftware für Studien mit Nanometerauflösung. Ein einzigartiges optisches Mikroskop Die 6-in-1-Kombination mehrerer optischer Techniken auf einer Plattform ermöglicht die ...
RTEC Instruments
... der Probenoberfläche und Live-EDX-Mappings zur Verfügung. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank ...
Jeol
... Charakterisierung von transparenten oder anderweitig optisch schwer zu beurteilenden Proben lösen. Aber nicht nur die grobe Topographie einer Probe ist von Interesse: Mit AFM lassen sich auch andere Materialeigenschaften erfassen, ...
... Der Einsatz des Microhone® CNC-Werkzeug- und Schleifmittelsystems in einer agilen Umgebung ermöglicht auch eine bessere Beurteilung der Qualität und die Möglichkeit, Prozesse daraufhin zu testen, ob sie die Erwartungen des Kunden an das ...
Flexible Allround-Messlösung Dank des robusten Aufbaus und der Unempfindlichkeit gegenüber Umgebungseinflüssen ist das MarSurf CM explorer nicht nur für den Einsatz im Test- und Prüflabor geeignet, sondern auch für die Qualitätssicherung ...
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