- Metrologie - Labor >
- Laborbedarf >
- Mikroskop für Topographie
Mikroskope für Topographie
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Vergrößerung: 160 unit - 175.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 15 nm
... Desktop SEM ist wirtschaftlich und einfach zu bedienen und verfügt über zuverlässige Automatisierungsfunktionen. Das Thermo Scientific Phenom Pure Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein ideales Werkzeug für den Übergang von ...
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm
... perfekte Wahl, um detaillierte Informationen über die Probenoberfläche zu erhalten. Das SED kann bei Anwendungen, bei denen Topographie und Morphologie wichtig sind, von großem Nutzen sein. ...
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Räumliche Auflösung: 1,2 nm
... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. - Die automatische Achsenjustierung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". - Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer nimmt große ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Digitales Mikroskop für Fehleranalyse, Qualitätssicherung und -kontrolle, Forschung und Entwicklung oder Forensik. Die hervorragende Optik, die intuitive Bedienung und die intelligente Software ermöglichen es dem Anwender, ...
... Produktionsumgebungen und Labors für Forschung und Entwicklung, wie beispielsweise die Charakterisierung von Rauheit und Topographie. - Perfekte Balance zwischen hoher Auflösung und hoher Geschwindigkeit - Datenanalyse ...
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 362 mm
Breite: 251 mm
Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert ...
Nikon Metrology
Räumliche Auflösung: 5 nm - 100.000 nm
... Das kompakte Forschungs-AFM, das das beste Preis-Leistungs-Verhältnis bietet Der CoreAFM ist das Ergebnis einer intelligenten Kombination der Kernkomponenten von AFM, um ein Maximum an Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit zu erreichen. ...
Nanosurf
Flexible Allround-Messlösung Das MarSurf CM explorer ist ein kompaktes Konfokalmikroskop, mit dem Sie Oberflächen dreidimensional präzise messen und analysieren können – berührungsfrei, materialunabhängig und schnell. Flexible Allround-Messlösung Dank ...
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werdenIhre Verbesserungsvorschläge:
Erhalten Sie alle zwei Wochen Neuigkeiten aus dieser Rubrik.
Bitte lesen Sie unsere Datenschutzbestimmungen, um zu erfahren, wie DirectIndustry mit Ihren personenbezogenen Daten umgeht.
- Liste der Marken
- Herstellerkonto
- Käuferkonto
- Unsere Dienstleistungen
- Newsletter abonnieren
- Über die VirtualExpo Group
Andere (bitte angeben)
Helfen Sie uns, uns zu verbessern:
Zeichen übrig