Rasterelektronenmikroskop JSM-IT810

InspektionSchottky-FeldemissionEBSD

Das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-IT810 vereint in einzigartiger Weise höchste Auflösung und Vielseitigkeit mit intuitivem Handling und weitgehender Automatisierung. Erstmalig ist eine Funktion integriert, die die unbeaufsichtigte, sequentielle REM-Abbildung und EDX-Analytik an einer Vielzahl von Probenpositionen ermöglicht. Darüber hinaus stehen neue Funktionen zur Verfügung wie die automatische Kalibration von Vergrößerung und EDX sowie die Entzerrung trapezförmiger, perspektivischer Verzerrungen für großflächige EBSD-Abbildungen. Dank der neuen graphischen Nutzeroberfläche war es noch nie so einfach, licht-optische Aufnahmen, REM-Abbildungen und die Elementcharakterisierung mittels EDX in einem einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Dazu stehen nun sogar Live-Funktionen wie eine Echtzeit-3D-Abbildung der Probenoberfläche und Live-EDX-Mappings zur Verfügung. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank des hohen Probenstromes zugleich für sämtliche analytischen Fragestellungen. Damit deckt das JSM-IT810 gleichermaßen einen breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht den einfachen Einstieg in die Welt der höchstauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie. Merkmale Höchstauflösende Bildgebung und Analyse selbst bei magnetischen oder isolierenden Materialien durch Einsatz einer Hybrid-Objektivlinse (HL) oder Super-Hybrid-Objektivlinse (SHL). Probenstrom ≥ 300 nA (SHL ≥ 500 nA): für extrem schnelle Analytik.