Transmissionselektronmikroskop JEM-F200

für AnalyseHellfeldDunkelfeld

Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde mit dem Ziel konzipiert, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken. Neben der speziell entwickelten, anwenderfreundlichen Benutzeroberfläche wurden die Auflösung und Stabilität deutlich gesteigert und zugleich weitere zahlreiche Funktionen implementiert. Merkmale Smart Design Das Design und Bedienerkonzept des neuen JEM-F200 wurden komplett überarbeitet. Die Softwareoberfläche wurde speziell auf die Anwenderbedürfnisse in der analytischen Transmissionselektronenmikroskopie ausgerichtet. Die über Jahrzehnte hinweg gesammelte Expertise als Technologieführer wurde ausgenutzt um eine exzellente mechanische und elektrische Stabilität zu erreichen. Quad-Lens Kondensorsystem Moderne Transmissionselektronenmikroskope müssen eine Vielzahl von Abbildungs- und Analysetechniken vereinen. Im JEM-F200 wird ein 4-stufiges Kondensorsystem eingesetzt um den Strahlstrom und den Konvergenzwinkel unabhängig voneinander zu kontrollieren. Fortgeschrittenes Rastersystem Zusätzlich zum Rastersystem in der Kondensor-Optik ist es beim JEM-F200 nun optional möglich, den Strahl in der bildgebenden Optik zu rastern. Dadurch werden großflächige STEM-EELS-Aufnahmen ermöglicht. Pico-Antrieb Statt eines Piezo-Antriebs kommt im JEM-F200 ein Pico-Antrieb für die Probenbühne zum Einsatz, der einen weiten dynamischen Bereich bis hinunter zur atomaren Skala abdeckt. Specporter Gerade für Einsteiger erleichtert der neu entwickelte Specporter den Einbau des Probenhalters deutlich, da dieser nach dem Einführen mit nur einem Klick automatisch geladen wird.