video corpo

Photoelektronenspektrometer JAMP-9510F
LaborchemischMCP

Photoelektronenspektrometer - JAMP-9510F   - Jeol - Labor / chemisch / MCP
Photoelektronenspektrometer - JAMP-9510F   - Jeol - Labor / chemisch / MCP
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
Photoelektronen
Bereich
Labor, chemisch
Detektortyp
MCP
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, hochempfindlich, mit hoher Drehzahl, Elektronen AES

Beschreibung

Die neue Feldemissions-Augersonde JAMP-9510F bietet mit 8 nm die weltweit beste laterale analytische Auflösung. Die Auflösung von 3 nm im Abbildungsmodus unterstreicht darüber hinaus die Vorteile einer Feldemissions-Strahlquelle gegenüber herkömmlichen LaB6-Quellen. Mit einer „low-aberration“ Kondensorlinse, in der ein elektrostatisches Feld und ein magnetisches Feld überlagert sind, in Kombination mit einer patentierten "in-lens" Schottky Feldemissionsquelle, erreicht die JAMP-9510F sehr kleine Strahldurchmesser mit sehr hohen Strahlströmen von bis zu 500 nA. In der JAMP-9510F kommt erstmals eine neuartige Ionenquelle, die sowohl für schnelles Absputtern, als auch für die Neutralisierung von Aufladungen geringer Energie verwendet werden kann, zum Einsatz. Mit dieser neuen Ionenquelle wird die Untersuchung isolierender Proben problemlos möglich. Mit der JAMP-9510F können hochaufgelöste REM-Abbildung, Auger-Abbildung, Linienprofilanalysen und Tiefenprofilanalysen auch während einer Ionenätzung durchgeführt werden. Das Elektronenspektrometer ist ein elektrostatischer, halbsphärischer Analysator (HSA) mit einem Vielkanaldetektor, optimal konzipiert für Auger-Analysen, d.h. beste Energieauflösung ohne Empfindlichkeitsverlust. Eine benutzerfreundliche, einfache Bedienung sowie eine flexible optionale Ausstattung runden das System ab und machen die JAMP-9510F zu einem universell einsetzbaren Gerät. Optionen (Auswahl) • EDX, EBSD, SIMS, XPS • Große Probenbühne (max. 95mm Ø) • Rückstreuelektronendetektor • Probenkühlung und Probenbrucheinrichtung • Probenheizung • Zusätzliche Proben-Parkstation

Kataloge

Weitere Produkte von Jeol

Transmissionselektronenmikroskope

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.