Messmikroskop CM EXPLORER
kompaktKonfokalfür Topographie

Messmikroskop
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Eigenschaften

Anwendungsbereich
Mess
Ergonomie
kompakt
Beobachtungstechnik
Konfokal
Weitere Eigenschaften
für Topographie

Beschreibung

Die Flexible Allround-Messlösung Das MarSurf CM explorer ist ein kompaktes Konfokalmikroskop, mit dem Sie Oberflächen dreidimensional messen und analysieren können – berührungsfrei, materialunabhängig und schnell. Dank des robusten Aufbaus und der Unempfindlichkeit gegenüber Umgebungseinflüssen ist das MarSurf CM explorer nicht nur für den Einsatz im Test- und Prüflabor geeignet, sondern auch für die Qualitätssicherung in Produktionsumgebungen bestens gerüstet. Ihre Top-Vorteile: Hohe Messgeschwindigkeit – auch bei voller Auflösung Bedienerfreundliches Konzept Sicherheit durch Kollisionsdetektion in allen Richtungen zum Schutz für Ihr Werkstück und Messsystem High-Dynamic-Range (HDR)-Funktion 16 Bit Konstant hohe Auflösung auch bei großen Messflächen dank HD-Stitching Das etablierte optische Messsystem wird unter anderem erfolgreich eingesetzt für: Rauheitsmessung nach DIN EN ISO 4287 / 25178 Topografiemessung (u.a. Volumen, Verschleiß, Isotropie) Messung von Mikrogeometrie und Schichtdicken Das etablierte optische Messsystem wird unter anderem erfolgreich eingesetzt für: Rauheitsmessung nach DIN EN ISO 4287 / 25178 Topografiemessung (u.a. Volumen, Verschleiß, Isotropie) Messung von Mikrogeometrie und Schichtdicken

Kataloge

* Die Preise verstehen sich o.MwSt., Lieferkosten, und Zollgebühren. Sie enthalten keine der Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohmaterialien und Wechselkurs schwanken können.