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... Sub‑Nanometer‑Bereich.
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,7, 1, 0,6 nm
... Rasterelektronenmikroskopische Charakterisierung von Nanomaterialien mit Sub-Nanometer-Auflösung und hohem Materialkontrast. Verios 5 XHR Raster-Elektronenmikroskop Das Verios 5 XHR SEM bietet eine Subnanometerauflösung über den gesamten Energiebereich ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 6 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Breite: 340 mm
... Um wissenschaftliche Entdeckungen zu beschleunigen, sind leistungsstarke Datenanalysen erforderlich. Aber es braucht auch Vielseitigkeit. Mit dem Thermo Scientific Quattro ESEM können Sie das breiteste Probenspektrum aller Thermo Scientific SEMs analysieren. ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Gewicht: 5 kg
Breite: 340 mm
... Labors sind Mehrbenutzer-Einrichtungen, in denen Benutzer mit unterschiedlichem Erfahrungsgrad arbeiten können. Die Zeit am Mikroskop ist kostbar, und ein übermäßiger Zeitaufwand für Wartung, Justierung, Schulung oder Bildoptimierung ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 1.030, 515 nm
... sauber genug für die direkte REM-Abbildung und sogar für oberflächenempfindliche Verfahren wie die Elektronenrückstreuung ( EBSD). Wir bieten ein breites Produktportfolio und fortschrittliche Automatisierungsmöglichkeiten für Anwendungen ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,7, 1,2, 1,4 nm
Gewicht: 5 kg
... Vielseitiges FIB-SEM für hohe Durchsatzleistung mit fortschrittlicher Automatisierung Das Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM ist ein modernes, ultrahochauflösendes, analytisch fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM). Es zeichnet sich ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 20 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 1,6, 1,2 nm
... Elektronenstrom von über 300nA können sehr schnelle Verteilungsbilder der Elementzusammensetzung (EDX) und Kristallrichtungen ( EBSD) aufgenommen werden. Selbst bei niedrigen Anregungsspannungen wird durch den hohen Strom eine schnelle ...
Jeol
... automatische Kalibration von Vergrößerung und EDX sowie die Entzerrung trapezförmiger, perspektivischer Verzerrungen für großflächige EBSD-Abbildungen. Dank der neuen graphischen Nutzeroberfläche war es noch nie so einfach, licht-optische ...
Jeol
Vergrößerung: 10 unit - 5.480.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7 nm - 3 nm
... einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank des ...
Jeol
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 7, 3 nm
Gewicht: 480 kg
CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8 nm - 1,3 nm
Gewicht: 950 kg
... CIQTEK FESEM- Mikroskop SEM5000Pro Spezifikationen -Elektronenoptik Auflösung：0,8 nm bei 15 kV, SE/1,2 nm bei 1,0 kV, SE Beschleunigungsspannung：0,02 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid)：1 ~ 2.500.000 x Elektronenkanonen-Typ：Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9 nm - 2,5 nm
... dreistufige magnetische Linsendesign mit großem und stufenlos einstellbarem Strahlstrom bietet offensichtliche Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen Anwendungen. Unterstützt den Niedrigvakuummodus und kann die Leitfähigkeit schwacher ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4,5, 3,9 nm
... CIQTEK SEM2100 SEM- Mikroskop Spezifikationen Elektronen-Optik Auflösung: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm bei 20 kV, BSE Beschleunigungsspannung: 0,5 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x Probenkammer Kamera: ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6 nm - 1 nm
Gewicht: 400 kg
... CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der „SuperTunnel“-Technologie ...
CIQTEK Co., Ltd.
Räumliche Auflösung: 3, 0,9, 1,6 nm
CIQTEK DB500 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung, das mit „SuperTunnel“-Technologie, geringer Aberration und magnetfreiem Objektivdesign, niedriger Spannung ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 1,2, 1,9 nm
... CIQTEK SEM4000X FESEM- Mikroskop Spezifikationen Elektronenoptik - Auflösung: 0.9 nm@ 30 kV, SE 1.2 nm@15 kV, SE 1.9 nm@1 kV, SE 1.5 nm@1 kV (Ultra-Strahlverzögerung) ...
CIQTEK Co., Ltd.
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