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Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 µm - 10 µm
... Ein bewährtes Großkammer-SEM für schnelle Materialabbildung und -analyse Das Thermo Scientific Phenom XL G3 Desktop SEM schafft die Voraussetzungen für eine schnellere und effizientere Qualitätskontrolle und Fehleranalyse. Sein größerer Probentisch bietet ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6, 5, 20, 10 nm
Gewicht: 50 kg
... Die Desktop-SEMs Phenom Pure, Pro und ProX G6 von Thermo Scientific sind wirtschaftliche und einfach zu bedienende Lösungen, die Ihnen einen Großteil der Arbeit abnehmen. Jedes Modell wurde mit Blick auf die Produktivität entwickelt und verfügt über eine ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm
... Zuverlässige und konsistente Ergebnisse auf Ihrem Desktop - automatisch Die Desktop-SEMs Phenom Pure, Pro und ProX G6 von Thermo Scientific sind wirtschaftliche und einfach zu bedienende Lösungen, die Ihnen einen Großteil der Arbeit abnehmen. Jedes Modell ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Das SU9000 II ist eine Kombination aus oberflächenabbildendem SEM und strukturauflösendem Rastertransmissionsmikroskop (STEM), die für eine extreme Auflösung optimiert ist. Ermöglicht wird dies durch die einzigartige Elektronenoptik des SU9000 II, die ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,6 nm
... Das SU8700 ist standardmäßig mit einer 150-mm-Probenschleuse ausgestattet und bietet einen hohen Probendurchsatz auch für größere Proben und eine konstant saubere Probenkammerumgebung für kontaminationsarme, hochauflösende Bildgebung. Darüber hinaus kann ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Das SU7000 ist ideal für große oder schwere Proben und für die Integration einer breiten Palette von Zubehör. Zu diesem Zubehör gehören analytische Detektoren oder Tischaufsätze für die In-situ-Probenmanipulation (Dehnung [Zug] / Kompression, Erwärmung/Kühlung, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht hochaufgelöste ...
Vergrößerung: 40 unit - 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4 nm - 8 nm
Gewicht: 120 kg
... Übersicht
- Das Tisch-Scanning-Elektronenmikroskop CEM3000A wurde für die Beobachtung von Mikrostruktur und die Analyse von Materialoberflächen entwickelt. Es ermöglicht hochkontrastreiche, groß Tiefenschärfe-Bildgebung mit Sekundär- (SE)
... Eine einzigartige Kombination von Plasma-FIB und feldfreiem UHR FE-SEM für die Multiskalen-Materialcharakterisierung - Hoher Durchsatz, großflächige FIB-Verarbeitung bis zu 1 mm - Ga-freie Mikroprobenpräparation - Ultrahochauflösende, feldfreie FEG-SEM-Bildgebung ...
Vergrößerung: 25 unit - 200.000 unit
Gewicht: 330 kg
Länge: 835 mm
... Das FusionScope ist ein korrelatives AFM/SEM-Mikroskop, das von Grund auf so konzipiert wurde, dass Sie die Vorteile der Kombination dieser beiden Analysemethoden nahtlos nutzen können. Für die meisten Analysen ist es oft wünschenswert, eine Probe mit ...
Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8 nm - 1,3 nm
Gewicht: 950 kg
... CIQTEK FESEM-Mikroskop SEM5000Pro Spezifikationen -Elektronenoptik Auflösung：0,8 nm bei 15 kV, SE/1,2 nm bei 1,0 kV, SE Beschleunigungsspannung：0,02 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid)：1 ~ 2.500.000 x Elektronenkanonen-Typ：Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone -Probenkammer Kamera：Doppelkameras ...
CIQTEK Co., Ltd.
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