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Sekundärelektronenmikroskope
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{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Vergrößerung: 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 2, 10, 3 nm
... Tisch-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone für hochwertige Aufnahmen in verschiedenen Disziplinen. Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone Das Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM bringt das Feldemissions-SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Gewicht: 5 kg
... Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl für ultrahochauflösende, hochwertige Probenpräparation und 3D-Charakterisierung. Das Thermo Scientific Scios 2 DualBeam ist ein ultrahochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 7, 3 nm
Gewicht: 5 kg
... Rasterelektronenmikroskop für die industrielle Forschung und Entwicklung mit der Möglichkeit, Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie zu betreiben. Umwelt-Rasterelektronenmikroskop Das Thermo Scientific Prisma E Rasterelektronenmikroskop ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 µm - 10 µm
... Phenom XL G2 Desktop SEM Anwendungen Das Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) der nächsten Generation automatisiert Ihren Qualitätskontrollprozess und liefert genaue, reproduzierbare Ergebnisse, während ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm
... Desktop SEM für robuste und mühelose SEM-Analysen, die Ihre Forschungsmöglichkeiten erweitern. Phenom Pro Desktop SEM Die sechste Generation des Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop SEM schließt die Lücke zwischen der Lichtmikroskopie ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm
... Desktop-SEM mit EDS-Funktion für robuste, mühelose und vielseitige Elementar- und SEM-Analysen. Phenom Desktop SEM mit energiedispersiver Röntgendiffraktometrie Die sechste Generation des Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 175.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 15 nm
... Desktop SEM ist wirtschaftlich und einfach zu bedienen und verfügt über zuverlässige Automatisierungsfunktionen. Das Thermo Scientific Phenom Pure Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein ideales Werkzeug für den Übergang von ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm
... Desktop-Rasterelektronenmikroskop für die Batterieproduktion und -forschung. Analyse fortschrittlicher Batteriematerialien Phenom Desktop SEM für die Analyse von Batteriematerialien In der Batterieproduktion und -forschung wird die ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm
... Analyse der Bauteilsauberkeit mit einem Mehrzweck-Desktop-SEM. Desktop-SEM für die Analyse der Bauteilsauberkeit Das Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM ist ein vielseitig einsetzbares Desktop-SEM, das technische Sauberkeit ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 10 nm
... Desktop-SEM für die Analyse der additiven Fertigung, das große Proben von bis zu 100 mm x 100 mm untersuchen kann. Analyse der additiven Fertigung Das Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Räumliche Auflösung: 1,2 nm
... Das innovative analytische FE-SEM ermöglicht einen einfachen Wechsel zwischen Hochvakuum- und variablem Druckmodus. EM Wizard ist ein wissensbasiertes System für die REM-Bildgebung, das über grundlegende voreingestellte Bedingungen und ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5, 15 nm
... Das FlexSEM 1000 II VP-SEM kombiniert innovative technologische Funktionen mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, um Anpassungsfähigkeit und Flexibilität in einem leistungsstarken, automatisierten und laborfreundlichen Paket zu bieten. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 10 unit - 25.000.054 unit
Gewicht: 54 kg
Länge: 614, 617 mm
... Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm
... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 25 unit - 200.000 unit
Gewicht: 330 kg
Länge: 835 mm
... Das FusionScope ist ein korrelatives AFM/SEM-Mikroskop, das von Grund auf so konzipiert wurde, dass Sie die Vorteile der Kombination dieser beiden Analysemethoden nahtlos nutzen können. Für die meisten Analysen ist es oft wünschenswert, ...
Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 1, 1,5, 0,8 nm
Gewicht: 950 kg
... CIQTEK SEM5000 ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM, FEG SEM). Erweiterte Spalte Design, Hochspannungs-Tunnel-Technologie (SuperTunnel), niedrige Aberration nicht Leckage magnetische ...
CIQTEK Co., Ltd.
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6 nm
Gewicht: 400 kg
... SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm@15 kV und 1,0 nm@1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der "SuperTunnel"-Technologie ...
CIQTEK Co., Ltd.
Räumliche Auflösung: 3, 1,2 nm
CIQTEK DB500 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung, das mit „SuperTunnel“-Technologie, geringer Aberration und magnetfreiem Objektivdesign, niedriger ...
CIQTEK Co., Ltd.
CIQTEK QDAFM Diamond III/IV ist ein Raster-NV-Zentrumsmikroskop, das auf dem Diamant-Stickstoff-Leerstellen-Zentrum (NV-Zentrum) und der AFM-Raster-Magnetbildgebungstechnologie basiert. Die magnetischen Eigenschaften der Probe werden ...
CIQTEK Co., Ltd.
... Eine einzigartige Kombination von Plasma-FIB und feldfreiem UHR FE-SEM für die Multiskalen-Materialcharakterisierung - Hoher Durchsatz, großflächige FIB-Verarbeitung bis zu 1 mm - Ga-freie Mikroprobenpräparation - Ultrahochauflösende, ...
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