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{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Vergrößerung: 40 unit - 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4 nm - 8 nm
Gewicht: 120 kg
... Übersicht
- Das Tisch-Scanning-Elektronenmikroskop CEM3000A wurde für die Beobachtung von Mikrostruktur und die Analyse von Materialoberflächen entwickelt. Es ermöglicht hochkontrastreiche, groß Tiefenschärfe-Bildgebung mit Sekundär- (SE)
Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet. Es kombiniert die REM-Bildgebung mit einer Live-Analyse der Zusammensetzung Ihrer Proben zeitgleich in einem einzigen Anwendungsfenster ...
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 7, 3 nm
Gewicht: 480 kg
CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4,5, 3,9 nm
... CIQTEK SEM2100 SEM- Mikroskop Spezifikationen Elektronen-Optik Auflösung: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm bei 20 kV, BSE Beschleunigungsspannung: 0,5 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x Probenkammer Kamera: ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6 nm - 1 nm
Gewicht: 400 kg
... CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der „SuperTunnel“-Technologie ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1 unit - 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 2,5 nm - 5 nm
Länge: 926 mm
... CIQTEK SEM3300 SEM- Mikroskop Spezifikationen *Elektronen-Optik Auflösung: 2,5 nm @ 15 kV, SE 4 nm bei 3 kV, SE 5 nm @ 1 kV, SE Beschleunigungsspannung: 0,1 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid): 1 x ~ 300.000 ...
CIQTEK Co., Ltd.
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