Mikroskop / großer Arbeitsabstand / für Analyse / Mess / opto-digitales
AM7915MZTL

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Mikroskop / großer Arbeitsabstand / für Analyse / Mess / opto-digitales Mikroskop / großer Arbeitsabstand / für Analyse / Mess / opto-digitales - AM7915MZTL
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Eigenschaften

  • Anwendungsbereich:

    für Analyse, Mess

  • Typ:

    opto-digitales

  • Beobachtungstechnik:

    Polarisation

  • Weitere Eigenschaften:

    mit digitaler HD Kamera, LED-Beleuchtung, großer Arbeitsabstand, USB, für Qualitätskontrolle

  • Vergrößerung:

    Min: 10 unit

    Max: 140 unit

Beschreibung

Das AM7915MZTL ist Teil des Dino-Lite mit langem Arbeitsabstand (LWD)-Sortiments und mit seiner langen Arbeitsabstand und Vergrößerungsbereich von 10 - 140x geeignet für eine Vielzahl von Anwendungen, wo zusätzliche Entfernung zum Objekt oder ein größeres Sichtfeld benötigt wird.

Mit dem erweiterten Dynamikbereich (EDR) können die Details dunklerer oder hellerer Bereiche innerhalb des Objekts durch Schichtung der Bilder mit unterschiedlicher Belichtung hervorgehoben werden. Die erweiterte Tiefenschärfefunktion (EDOF) schichtet Bilder automatisch mit unterschiedlichen Bildschärfen zur Verbesserung der Tiefenschärfe auf rauen oder unebenen Oberflächen. Die AMR-Funktionalität ist von besonderer Bedeutung, wenn die Messfunktionen häufig verwendet werden. Aufgrund des eingebauten Polarisationsfilters ist dieses Modell ideal für die Arbeit mit glänzenden oder reflektierenden Objekten wie Metall, Kunststoff, Glas, Schmuck, Elektronik, usw.

Die wichtigsten Merkmale des AM7915MZTL sind:
• 5 Megapixel Edgesensor
• Extended Depth of Field (EDOF)*
• Extended Dynamic Range (EDR)*
• 10-140x Vergrößerung & Großer Arbeitsabstand
• Automatische Vergrößerungsablesung (AMR)
• Integrierten Polarisator
• Flexible LED Control (FLC)
• Und mehr...

(* Derzeit funktioniert diese Merkmale nur unter Windows OS)