Opto-digitales Mikroskop AF7915MZTL

InspektionMessPolarisation

Die AF7915MZTL ist Teil der Long Working Distance (LWD)-Reihe und mit ihrer langen Arbeitsdistanz und einem Vergrößerungsbereich von 10-140x für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, bei denen zusätzlicher Abstand zum Objekt oder ein größeres Sichtfeld erforderlich ist. Mit der Funktion Erweiterter Dynamikumfang (EDR) können Details dunklerer oder hellerer Bereiche innerhalb des Objekts durch das Stapeln von Bildern mit unterschiedlichen Belichtungsstufen sichtbar gemacht werden. Die Funktion Erweiterte Schärfentiefe (EDOF) stapelt automatisch Bilder mit unterschiedlichen Fokusebenen, um die Schärfentiefe auf rauen oder unebenen Oberflächen zu verbessern. Die AMR-Funktion ist besonders wichtig, wenn die Messfunktionen häufig verwendet werden. Aufgrund des eingebauten Polarisationsfilters ist dieses Modell ideal für die Arbeit mit glänzenden oder reflektierenden Objekten wie Metall, Kunststoff, Glas, Schmuck, Elektronik usw. Die Hauptmerkmale der AF7915MZTL sind: • 5-Megapixel-Edge-Sensor • Erweiterte Schärfentiefe (EDOF) • Erweiterter Dynamikumfang (EDR) • 10-140x Vergrößerung • Lange Arbeitsdistanz • Automatische Vergrößerungsablesefunktion (AMR) • Einstellbarer Polarisator • Flexible LED-Steuerung (FLC) • Drahtlos bereit • Und mehr...