FTIR-Mikroskop HYPERION II

für MaterialforschungTischgerätHochpräzision

Das HYPERION II Mikroskop kombiniert erstmals FT-IR und Infrarot-Laser-Imaging (ILIM) Mikroskopie in einem einzigen Gerät. Es bietet alle drei Messmodi: Transmission, Reflexion und ATR. Jetzt haben die Anwender die einzigartige Möglichkeit, ein IR-Mikroskop zu nutzen, das die Zuverlässigkeit und Präzision von FT-IR und den enormen Geschwindigkeitsvorteil von IR-Laser-Imaging in einem Gerät vereint. Gemeinsam mit unseren Kunden öffnen wir die Tür für die Entwicklung neuer und die Optimierung bestehender IR-Methoden. Erfassen Sie ein FT-IR-Spektrum, wählen Sie eine geeignete Wellenlänge und erstellen Sie mit IR-Laser-Imaging in Sekundenschnelle beeindruckende chemische Bilder. • Erhältlich mit Breit/Mittel/Schmalband-LN2-MCT, sowie thermoelektrisch gekühltem (TE-) MCT Detektor • Focal-Plane-Array-Detektor für Infrarot-Bildgebung (64 x 64 oder 128 x 128 Pixel) • QCL-Implementierung durch Laser Infrared Imaging Module (ILIM, Laserklasse 1) • Hohe Abbildungsgeschwindigkeiten: 0,1 mm² pro Sekunde (FPA, Vollspektrum), 6,4 mm² pro Sekunde (ILIM, bei 1er Wellenzahl) • Objektivauswahl: 3,5x/15x/36x IR, 20x ATR, 15x GIR, 4x/40x VIS • Erweiterung des Spektralbereichs – von Nahinfrarot (NIR) bis Ferninfrarot (FIR) • Blendenauswahl: manuelle Schneidenblende, automatisierte Schneidenblenden oder Blendenrad. (Metallschneidenblenden für NIR/VIS) • Visuelle/optische Werkzeuge: Dunkelfeldbeleuchtung, Fluoreszenzbeleuchtung, VIS-Polarisatoren, IR-Polarisatoren, uvm • Zubehöre und Probentische: Makro-IR-Bildgebungszubehör, Kühl- und Heiztische, externe Probenkammern, uvm