Messtechnik-Mikroskope

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Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde
Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde
Scios 2

Räumliche Auflösung: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Gewicht: 5 kg

... Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl für ultrahochauflösende, hochwertige Probenpräparation und 3D-Charakterisierung. Das Thermo Scientific Scios 2 DualBeam ist ein ultrahochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop ...

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Rasterelektronenmikroskop
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Verios 5 XHR

Räumliche Auflösung: 0,7, 1, 0,6 nm

... Rasterelektronenmikroskopische Charakterisierung von Nanomaterialien mit Sub-Nanometer-Auflösung und hohem Materialkontrast. Verios 5 XHR Raster-Elektronenmikroskop Das Verios 5 XHR SEM bietet eine Subnanometerauflösung über den gesamten ...

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Rasterelektronenmikroskop
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Quattro ESEM

Räumliche Auflösung: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... Umwelt-Rasterelektronenmikroskop (ESEM) für die Untersuchung von Materialien in ihrem natürlichen Zustand. Quattro Umweltscanning-Elektronenmikroskop Das Thermo Scientific Quattro ESEM kombiniert eine umfassende Leistung in der Bildgebung ...

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STEM-Mikroskop
STEM-Mikroskop
HF5000

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm

... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem ...

Mikroskop mit hoher Drehzahl
Mikroskop mit hoher Drehzahl
AM73915MZT - USB3.0

Vergrößerung: 10 unit - 220 unit

Das Dino-Lite AM73915MZT ist Teil der High Speed Real Time Reihe mit USB 3.0 Anschluss. Es bietet hervorragende unkomprimierte Bildqualität und Farbwiedergabe in einem robusten, kompakten und ansprechenden Metallgehäuse. USB 3.0 fügt ...

Mikroskop mit hoher Drehzahl
Mikroskop mit hoher Drehzahl
AM73915MZTL - USB3.0

Vergrößerung: 10 unit - 140 unit

Das Dino-Lite AM73915MZTL ist ein Modell für einen langen Arbeitsabstand und ist Teil der High Speed Real Time Reihe mit USB 3.0 Anschluss. Es bietet hervorragende unkomprimierte Bildqualität und Farbwiedergabe in einem robusten, kompakten ...

Mikroskop für die Metallurgie
Mikroskop für die Metallurgie
MBL3300

Vergrößerung: 40 unit - 800 unit

... Qualitätsbestimmung, Rohmaterial- Analyse und Kontrolle von Metallstrukturen nach einer Hitzebehandlung. Dieses metallurgische Mikroskop ist besonders geeignet für Anwendungen in Labor und Industrie. Es ist mit einem ...

Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
JSM-7900F

Vergrößerung: 3.500 unit - 100.000 unit

... Das JSM-7900F ist JEOLs neues Flaggschiff unter den FE-SEMs, das extrem hochauflösende Bildgebung, verbesserte Stabilität und außergewöhnliche Benutzerfreundlichkeit für alle Anwender in einer Mehrzweckumgebung vereint. Neo Engine(New ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
MM series

Vergrößerung: 1 unit - 100 unit
Gewicht: 20, 5, 15 kg
Länge: 100, 150, 200, 250, 300 mm

Das MM-200 ist Nikons kompaktestes, hochpräzises Messmikroskop, das für die genaue Messung von Funktionen von Bauteilen anhand eines Plans entwickelt wurde. Es ist ein leichtes, manuelles Messsystem, das Wiederholgenauigkeit mit einfach ...

SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
MAGNA

... UHR SEM für die Charakterisierung von Nanomaterialien auf der Sub-Nanometer-Skala - Hochauflösende und kontrastreiche Abbildung von Materialien der nächsten Generation (z.B. Katalysatorstrukturen, Nanoröhren, Nanopartikel und andere ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
LD-260

Vergrößerung: 19 unit - 120 unit

... Das LD 260 von Metrology ist mit einer Bildschirmdarstellung ausgestattet, die 1,3 Megapixel Bilder unterstützt. Diese 8,4" Einheit bietet dem Bediener die Möglichkeit, Bilder im Bereich von 18,67 bis 120x zu vergrößern. Es kann reduplizieren ...

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Werkzeugmachermikroskop
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STM-1050

Räumliche Auflösung: 0,5 µm

... Anwendung: Es ist weit verbreitet in der mechanischen, Meter, elektronische und leichte Industrie, Universität, Institut und Metrologie-Abteilung verwendet. Der Messprofilprojektor kann die Kontur Dimension und Oberflächenform der Vielfalt ...

Rasterkraftmikroskop
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NX-TSH

Räumliche Auflösung: 0,15, 0,02 nm
Gewicht: 2.720 kg
Länge: 1.450 mm

... Park NX-Tip Scan-Kopf - Automatisiertes Rasterkraftmikroskopie (AFM)-System zur Messung von sehr großen und schweren Flachbildschirmen im Nanobereich Als Antwort auf die steigende Nachfrage nach AFM-basierter Metrologie an größeren Flachbildschirmen ...

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Räumliche Auflösung: 100 nm - 6.000.000 nm

... UKAS-zertifiziert. Die BRINtronic-Baureihe von alleinstehenden automatischen Brinell-Mikroskopen beinhaltet Folgendes: - das vollautomatische portable Brinell-Mikroskop BRINtronic- LT² beinhaltet ...

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Foundrax Engineering Products Ltd
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OptiMIC

Vergrößerung: 40 unit - 100 unit

OptiMIC Mikroskop Optisches Mikroskop mit Winkelmesser für EWAG WS11-Maschine. N°: MA 118GC-031 Technische Daten: • - Reelles Bild. • - Einblickwinkel 30°. • - Standardvergrösserung von 40X ...

digitales Mikroskop
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... Das konfokale Mikroskop der Serie VT6000 ist ein Instrument zur Messung der Oberfläche verschiedener Präzisionsgeräte und Materialien auf Mikro- und Nanoebene. Es nutzt die konfokale Technologie als Prinzip, kombiniert ...

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