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Räumliche Auflösung: 0,7, 1, 0,6 nm
... Rasterelektronenmikroskopische Charakterisierung von Nanomaterialien mit Sub-Nanometer-Auflösung und hohem Materialkontrast. Verios 5 XHR Raster-Elektronenmikroskop Das Verios 5 XHR SEM bietet eine Subnanometerauflösung über den gesamten Energiebereich ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 6 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Breite: 340 mm
... Um wissenschaftliche Entdeckungen zu beschleunigen, sind leistungsstarke Datenanalysen erforderlich. Aber es braucht auch Vielseitigkeit. Mit dem Thermo Scientific Quattro ESEM können Sie das breiteste Probenspektrum aller Thermo Scientific SEMs analysieren. ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Gewicht: 5 kg
Breite: 340 mm
... Labors sind Mehrbenutzer-Einrichtungen, in denen Benutzer mit unterschiedlichem Erfahrungsgrad arbeiten können. Die Zeit am Mikroskop ist kostbar, und ein übermäßiger Zeitaufwand für Wartung, Justierung, Schulung oder Bildoptimierung ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm
... Das HF5000 ist ein Cs-korrigiertes S/TEM, das für In-situ-Experimente angepasst werden kann. Die Besonderheit ist der Everhart Thornley SE-Detektor, der die Oberfläche der Probe bei 60-200kV abbildet, genau wie bei einem SEM. Dies ist besonders vorteilhaft ...
Vergrößerung: 10 unit
Räumliche Auflösung: 1 nm
Gewicht: 50 kg
... 1. Hohe Präzision und hohe Wiederholbarkeit 1) Basierend auf dem rotierenden konfokalen optischen System, kombiniert mit einem hochstabilen strukturellen Design und einem exzellenten 3D-Rekonstruktionsalgorithmus, wird das Messsystem zusammengesetzt, ...
Vergrößerung: 10 unit - 220 unit
Gewicht: 110 g
Länge: 11,9 cm
... Das Dino-Lite AM73915MZT ist Teil der High Speed Real Time Reihe mit USB 3.0 Anschluss. Es bietet hervorragende unkomprimierte Bildqualität und Farbwiedergabe in einem robusten, kompakten und ansprechenden Metallgehäuse. USB 3.0 fügt einen neuen Übertragungsmodus ...
Vergrößerung: 10 unit - 140 unit
Gewicht: 110 g
Länge: 11,9 cm
Das Dino-Lite AM73915MZTL ist ein Modell für einen langen Arbeitsabstand und ist Teil der High Speed Real Time Reihe mit USB 3.0 Anschluss. Es bietet hervorragende unkomprimierte Bildqualität und Farbwiedergabe in einem robusten, kompakten und ansprechenden ...
Vergrößerung: 40 unit - 800 unit
... Qualitätsbestimmung, Rohmaterial- Analyse und Kontrolle von Metallstrukturen nach einer Hitzebehandlung. Dieses metallurgische Mikroskop ist besonders geeignet für Anwendungen in Labor und Industrie. Es ist mit einem Fototubus zum Anschluss ...
Vergrößerung: 40, 20 unit
... ● Eine Art optisches Messinstrument, das sich durch einen einfachen Aufbau, bequeme Bedienung und breite Anwendbarkeit auszeichnet. Beleuchtung ● Messen von Lochabstand, Rillenbreite, Schlitzeindrücken, Länge, Metalloberflächenqualität, Faser- und Gewebedichte, ...
... UHR SEM für die Charakterisierung von Nanomaterialien auf der Sub-Nanometer-Skala - Hochauflösende und kontrastreiche Abbildung von Materialien der nächsten Generation (z.B. Katalysatorstrukturen, Nanoröhren, Nanopartikel und andere nanoskalige Strukturen) - ...
Vergrößerung: 2 unit - 200 unit
... MZM 1 - Makro - Zoom Mikroskop Das Makro - Zoom Mikroskop für Ihre Messaufgaben Das MZM 1 ist ein Mikroskop mit einem exakt senkrechten Strahlengang und bietet mit seinen hohen Arbeitsabständen besonders ...
Räumliche Auflösung: 0,15, 0,02 nm
Gewicht: 2.720 kg
Länge: 1.450 mm
... Park NX-Tip Scan-Kopf - Automatisiertes Rasterkraftmikroskopie (AFM)-System zur Messung von sehr großen und schweren Flachbildschirmen im Nanobereich Als Antwort auf die steigende Nachfrage nach AFM-basierter Metrologie an größeren Flachbildschirmen ...
Vergrößerung: 19 unit - 120 unit
... Das LD 260 von Metrology ist mit einer Bildschirmdarstellung ausgestattet, die 1,3 Megapixel Bilder unterstützt. Diese 8,4" Einheit bietet dem Bediener die Möglichkeit, Bilder im Bereich von 18,67 bis 120x zu vergrößern. Es kann reduplizieren und ein ...
Räumliche Auflösung: 0,5 µm
... Anwendung: Es ist weit verbreitet in der mechanischen, Meter, elektronische und leichte Industrie, Universität, Institut und Metrologie-Abteilung verwendet. Der Messprofilprojektor kann die Kontur Dimension und Oberflächenform der Vielfalt komplexe Werkstück, ...
Vergrößerung: 40 unit - 100 unit
... OptiMIC Mikroskop Optisches Mikroskop mit Winkelmesser für EWAG WS11-Maschine. N°: MA 118GC-031 Technische Daten: • - Reelles Bild. • - Einblickwinkel 30°. • - Standardvergrösserung von 40X bis 100X. • - ...
... 3D Laserscanning- Mikroskop für hochpräzise, großflächige Messungen Dank Triple Principle Integrated und automatischen Multi-Punkt-Messungen ermöglicht das VK-X4000 hochauflösende, materialunabhängige Messungen über einen großen Messbereich. Drei ...
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