3D-Mikroskop VK-X4000

optischfür AnalyseMesstechnik

3D Laserscanning-Mikroskop für hochpräzise, großflächige Messungen Dank Triple Principle Integrated und automatischen Multi-Punkt-Messungen ermöglicht das VK-X4000 hochauflösende, materialunabhängige Messungen über einen großen Messbereich. Drei Messverfahren in einem System Automatische Messungen mehrerer Positionen und Messobjekte AI-ANALYZER macht den Unterschied für jeden leicht sichtbar Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X4000 vereint drei Messverfahren in einem System: konfokaler Laser, Weißlichtinterferometrie und Fokusvariation. Damit lassen sich hochpräzise Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte durchführen. Es liefert schnelle, hochpräzise und großflächige Messungen, selbst auf herausfordernden Oberflächen wie hochglänzenden und transparenten Materialien. Die Modellreihe VK-X4000 bietet außerdem eine neu entwickelte, automatische Multi-Punkt-Messung, mit der Messungen mehrerer Positionen und Messobjekte schnell automatisiert werden können. Durch den geringeren Zeitaufwand sowie einfache Bedienbarkeit optimiert die Modellreihe VK-X4000 die Objektivität, Effizienz und Zuverlässigkeit. Triple Principle Integrated: Drei Messverfahren in einem System ermöglichen Messungen unabhängig von Material, Form und Oberflächenbeschaffenheit Zuverlässige Rauheitsanalyse und Messung von Höhenunterschieden komplexer und geometrisch anspruchsvoller Oberflächen ganz ohne Vorbereitung. Erfassung feinster Oberflächenkonturen beliebiger Materialien, selbst auf transparenten und spiegelnden Oberflächen. Schnelle Erfassung von großen Messbereichen, selbst bei Messobjekten mit ausgeprägten Höhenunterschieden.