SEM-Mikroskop MAGNAMesstechnikTischgeräthochauflösend
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Eigenschaften
- Typ
- SEM
- Anwendungsbereich
- Messtechnik
- Konfigurierung
- Tischgerät
- Weitere Eigenschaften
- hochauflösend, mit hohem Kontrast
Beschreibung
UHR SEM für die Charakterisierung von Nanomaterialien auf der Sub-Nanometer-Skala
- Hochauflösende und kontrastreiche Abbildung von Materialien der nächsten Generation (z.B. Katalysatorstrukturen, Nanoröhren, Nanopartikel und andere nanoskalige Strukturen)
- Hervorragende Plattform geeignet für SEM/STEM-Metrologie auf Sub-Nanometer-Skala
- Schneller Aufbau des Elektronenstrahls - optimale Abbildungsbedingungen werden durch den In-Flight Beam gewährleistet Tracing™
- Multi-Detektor-System TriBE™ und TriSE™ zur Proben-Nanocharakterisierung
- Intuitive, modulare Software-Plattform für mühelose Bedienung unabhängig vom Kenntnisstand der Benutzer
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Kataloge
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.