SEM-Mikroskop TIMA

für AnalyseIndustrieSpektral

TESCAN TIMA ist eine spezielle Lösung für automatisierte mineralogische Analysen in geowissenschaftlichen Studien und in der industriellen Mineralienverarbeitung. Die vierte Generation von TESCAN TIMA zeichnet sich durch eine verbesserte Benutzerfreundlichkeit und ultraschnelle Analysen aus, die den Weg zu verlässlichen und reproduzierbaren Daten verkürzen. Bis zu vier EDS-Detektoren arbeiten gleichzeitig, um den Durchsatz bei der Probenverarbeitung zu erhöhen, während der einzigartige, hochempfindliche Spektralsummierungsalgorithmus von TESCAN eine genaue Quantifizierung von Elementen mit geringer Häufigkeit gewährleistet. Die TIMA-Daten lassen sich leicht mit anderen Techniken zur Mineralcharakterisierung korrelieren. - Schnellere Verarbeitung der Proben und schnellere Datenerfassung durch den gleichzeitigen Einsatz von bis zu vier EDS-Detektoren mit digitalen Pulsprozessoren - Quantifizieren Sie das Vorhandensein von Elementen mit geringer Häufigkeit genau mit dem patentierten, hochempfindlichen Spektralsummierungsalgorithmus von TESCAN - Automatische Identifizierung und Quantifizierung von Mineralien - auch ohne umfangreiche Erfahrung - mit Hilfe von Algorithmen oder benutzerdefinierten Regeln und der integrierten mineralogischen Datenbank - Bestimmen Sie den Standort bestimmter Mineralien mit der automatischen Suche von TIMA nach Mineralien von Interesse - Nutzen Sie die Vorteile der Offline-Datenverarbeitung mit Zugriff auf alle Elementkarten, um Gerätezeit für die interaktive Mikroanalyse freizumachen