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Transmissionselektronmikroskop / für Forschungszwecke / für Lehrzwecke / hochauflösend
Transmissionselektronmikroskop
JEM-1000

Räumliche Auflösung: 0.1, 2 nm

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JEM-ARM300F

Räumliche Auflösung: 0.063, 0.082 nm

Als Weiterentwicklung des bewährten JEM-ARM200F verfügt das neue 300kV Transmissions­elektronen­mikroskop JEM-ARM300F über eigens von JEOL entwickelte Dodekapol-Korrektoren. Das Gerät mit dem Beinamen GRAND ARM erreicht ...

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Transmissionselektronmikroskop / für Analyse / ultrahochauflösend / Digitalkamera
Transmissionselektronmikroskop
JEM-ARM200F

Räumliche Auflösung: 0.08 nm - 0.23 nm

Das JEOL JEM-ARM200F (Atomic Resolution Microscope) ist ein Höchstleistungs-TEM mit Feldemissions-Kathode für Untersuchungen auf atomarem Niveau in Materialwissenschaften, Nanotechnologie und Biowissenschaften. Das Gerät verfügt über ...

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Elektronenmikroskop / für Analyse / hohem Kontrast / ultrahochauflösend
Elektronenmikroskop
JEM-3200FS

Räumliche Auflösung: 0.1 nm - 0.26 nm

Das JEOL JEM-3200FS basiert auf dem JEM-3100F mit einem zusätzlich in die Elektronenoptik integrierten in-column-Energiefilter (Omega Filter). Mit diesem Gerät steht ein optimal konfiguriertes high-end-TEM für energiegefilterte Abbildung ...

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optisches Mikroskop / für Analyse / hochauflösend / Hellfeld
optisches Mikroskop
JEM-F200

Räumliche Auflösung: 0.19, 0.23 nm

Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde von Grund auf neu konzipiert mit dem Ziel, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken. Neben der neu entwickelten, anwenderfreundlichen ...

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SEM-Mikroskop
JEM-2800

Räumliche Auflösung: 1, 0.2, 0.1, 0.5, 0.31 nm

Das JEM-2800 ist ein Feldemissions-STEM, speziell für Arbeitsumgebungen konzipiert, die höchste Leistung bei hoher Effizienz verlangen. Die Bedienung des JEM-2800 ist vergleichbar mit der eines Rasterelektronenmikroskops, allerdings wird ...

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optisches Mikroskop / für Analyse / hohem Kontrast / ultrahochauflösend
optisches Mikroskop
JEM-2200FS

Räumliche Auflösung: 0.1 nm - 0.31 nm

Das JEOL JEM-2200FS basiert auf dem JEM-2100F mit einem zusätzlich in die Elektronenoptik integrierten in-column-Energiefilter (Omega Filter). Mit diesem Gerät steht ein optimal konfiguriertes high-end-TEM für energiegefilterte Abbildung ...

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Transmissionselektronmikroskop / Labor / hohem Kontrast / Mehrzweck
Transmissionselektronmikroskop
JEM-2100F

Räumliche Auflösung: 0.1 nm - 0.31 nm

Das JEOL JEM-2100F ist ein Hochleistungs-TEM mit Feldemissions-Kathode für Untersuchungen auf atomarem/molekularem Niveau in Materialwissenschaften, Nanotechnologie und Biowissenschaften. Fünf verschiedene Polschuhe zur optimalen Anpassung ...

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Transmissionselektronmikroskop / bio-medizinische / Mehrzweck / ultrahochauflösend
Transmissionselektronmikroskop
JEM-2100Plus

Räumliche Auflösung: 0.14 nm - 0.31 nm

... leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint. Das Mikroskop eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungsgebieten in der Werkstoffkunde ...

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Transmissionselektronmikroskop / hohem Kontrast / Hochpräzision / automatisiert
Transmissionselektronmikroskop
JEM-1400 Plus

Räumliche Auflösung: 2, 0.2, 0.38 nm

Das JEM-1400Plus ist ein neu entwickeltes, kompaktes Hochleistungs-TEM mit LaB6-Kathode und programmierbarer fünf-Achsen-Probenbühne. Die maximale Beschleunigungsspannung des Gerätes beträgt 120 kV. Zwei verschiedene Objektiv-Polschuhe ...

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Rasterelektronmikroskop / für Analyse / hochauflösend / hohe Drehzahl
Rasterelektronmikroskop
JSM-7800F Prime

Räumliche Auflösung: 3, 0.7 nm

Das JSM-7800F PRIME setzt mit seiner herausragend hohen Auflösung und Stabilität neue Standards für Abbildungen und Analyseverfahren im Bereich der Rasterelektronenmikroskopie. Das Leistungsspektrum dieses Hochleistungs-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops ...

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Rasterelektronmikroskop / für Analyse / hochauflösend / Digitalkamera
Rasterelektronmikroskop
JSM-7800F

Räumliche Auflösung: 3, 1.2, 0.8 nm

Das JEOL JSM-7800F ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer neu entwickelten, thermischen Feldemissionsquelle. Die geringe Energiebreite der emittierten Elektronen ergibt die bestmögliche Fokussierbarkeit des Elektronenstrahls ...

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Rasterelektronmikroskop / für Analyse / ultrahochauflösend / Digitalkamera
Rasterelektronmikroskop
JSM-7610F

Räumliche Auflösung: 3, 1, 1.3 nm

Das JEOL JSM-7610F ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer neu entwickelten, thermischen Feldemissionsquelle. Die geringe Energiebreite der emittierten Elektronen ermöglicht eine herausragende Fokussierbarkeit des Elektronenstrahls ...

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Elektronenmikroskop / für Analyse / hochauflösend / Digitalkamera
Elektronenmikroskop
JSM-7500F

Räumliche Auflösung: 1, 1.4 nm

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Rasterelektronmikroskop / für Analyse / hochauflösend / FE-SEM
Rasterelektronmikroskop
JSM-7200F

Räumliche Auflösung: 1, 3, 1.6 nm

Beim neuen JSM-7200F wird dank der patentierten In-Lens Schottky-Plus-Technology vor allem bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung (1,6 nm bei 1 kV) erreicht und zugleich kann ein hoher Probenstrom von über 300nA erzeugt ...

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