ProduktübersichtDie Positionierungstechnologie von ASMPT AMICRA für den photonischen und mikroelektronischen Montagebereich kombiniert vision-gesteuerte Platzierung mit in-situ AuSn-Eutektik-Löten. Die NANO-Plattform integriert vier fest auf Granit montierte hochauflösende Bildgebungssysteme, ein dynamisches Ausrichtungssystem und hochauflösende Bewegungssteuerungen auf einer vibrationsgedämpften Granitstruktur. Ein Faserlaser dient als primäre Wärmequelle für das AuSn-Eutektik-Löten und ermöglicht Hochgeschwindigkeitsprozesse bei gleichbleibender Wiederholgenauigkeit.
Funktionen- Unterstützt Platziergenauigkeit ± 0,2 µm* @ 3σ
- Geeignet für Die Attach- und Flip-Chip-Anwendungen
- Hochpräzise Ausrichtungsoptik und dynamisches Ausrichtungssystem
- Vibrationsdämpfungssystem auf Granitbasis
- Automatisches Placement-Offset-Tuning-System
- 300 mm Bondstation mit hoher Auflösung
- In-situ Eutektik-Lötfähigkeit mit Faserlaser-Heizung
- Drei Heizoptionen, einschließlich Laserlöt-System für AuSn
- Epoxid-Stempel- und Dispenser-Fähigkeit
- UV-Härtung am Bondstation möglich
- Post-Bond-Inspektion und Wafer-Mapping-Software
- Integrierter Reinraum mit HEPA-Filter und Ionisator
- Modulares Maschinenkonzept für Prozessflexibilität
Technische Spezifikationen- Platziergenauigkeit: ± 0,2 µm @ 3σ (Leistung abhängig von Package und Materialien)
- Anwendungstypen: Die Attach, Flip Chip
- Ausrichtung: Hochpräzise Optik; Dynamisches Ausrichtungssystem
- Bewegung & Struktur: Hochauflösende Bewegungssteuerung auf Granit mit Vibrationsdämpfung
- Bildgebung: Vier fest auf Granit montierte Bildgebungssysteme (vision-gesteuertes Design)
- Bondstation: 300 mm Hochauflösungsstation mit in-situ Eutektik-Fähigkeit
- Heizoptionen: Drei Optionen, einschließlich Faserlaser für AuSn-Eutektik
- Zusätzliche Fähigkeiten: Epoxid-Stempeln/Dispensen, UV-Härtung an der Station
- Inspektion & Software: Post-Bond-Inspektion und Wafer-Mapping
- Umgebung: Integrierter Reinraum mit HEPA-Filtration und Ionisator
- Maschinenkonzept: Modulares Design mit automatischem Placement-Offset-Tuning und quantitativer Parallelismus-Kalibrierung