Optisches Inspektionssystem AM018TH

automatischQualitätfür die Elektronikindustrie

Das Wafer-Prüfsystem AM018T ist eine schnelle, präzise und umfassende Lösung, mit der Sie Wafer nach Größe, Dicke, Verfärbungen, Absplitterungen, spezifischem Widerstand, Mikrorissen, P/N-Typ, Löchern usw. erkennen und sortieren können. Der Pionier unter den Wafer-Sortiersystemen auf dem heimischen Markt Dank seiner hervorragenden Inspektionsleistung und zuverlässigen Automatisierung hat sich das Inspektionssystem einen guten Ruf erworben und ist zur ersten Wahl für Kunden weltweit geworden. Das Hochgeschwindigkeits-Wafer-Inspektionssystem wurde speziell für die End-of-Line-Qualitätsprüfung nach den Schneide- und Reinigungsprozessen in der Waferfertigung entwickelt und dient als abschließende Qualitätskontrolle vor dem Versand der Wafer. Kernfunktion: Durchführung einer umfassenden Inspektion und Klassifizierung von Wafern, um sicherzustellen, dass nur qualifizierte Wafer in den Zellfertigungsprozess gelangen, wodurch eine bessere Qualität zu wettbewerbsfähigeren Preisen erzielt wird. Die vom Wafer-Inspektionssystem generierten Daten können zudem an den vorangehenden Schneideprozess übermittelt werden, um diesen zu optimieren und die Ausbeute zu verbessern. Technologische Vorteile: a) Unverzichtbare Ausrüstung für die Massenproduktion hocheffizienter Solarzellen, die dem Trend zu großformatigen (182–230 mm, voll- und halbgeschnitten) und dünneren Wafern (100–240 μm) gerecht wird; b) KI-basierte Inspektion: Die Kombination aus traditionellen Algorithmen und Deep Learning ermöglicht es, komplexe Defekte wie Mikrorisse (Länge ≥ 0,5 mm), Sägespuren (±3 µm) und TTV (±2 µm) genauer und stabiler zu identifizieren, wobei die Erkennungsrate 98 % übersteigt; c) Hohe Stabilität und geringe Bruchquote: Durch den Einsatz einer zerstörungsfreien Bernoulli-basierten Transfertechnologie