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... Die-Sortierung für die Produktion (z. B. Wafer-Akzeptanz oder "Known Good Die"-Prüfungen) und Zuverlässigkeit. Die parametrischen Testsysteme der Serie S530 von Keithley mit KTE 7-Software bieten schnelle, vollständig flexible Konfigurationen, ...
... Übersicht
Der VIP Ultra von Cosmic ist ein ATE (Automatic Test Equipment) der nächsten Generation für Hochdurchsatztests an Leistungshalbleitern (Si, SiC, GaN). Für die Integration in Reinräume ausgelegt, skaliert er parallel von 48 Prüfplätzen ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... Übersicht
DMT EVO ist ein kompaktes Mixed‑Signal‑ und Digital‑Automatiktestsystem (ATE) zur effizienten Charakterisierung und Validierung von ICs in F&E, Labor, Vorserien‑ und Post‑Produktionsphasen. Das modulare Mainframe bietet bis zu 5 Steckplätze ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... Produktübersicht
HATINA GP ist eine ATE-Plattform (automated test equipment) für die Charakterisierung und die produktionstauglichen Tests von Smart Power ICs und SoCs mit hohem Parallelitätsgrad. Das System basiert auf einem modularen Mainframe, ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... Produktübersicht
Die PST6747Ai‑Serie ist ein Prüfsystem für
Halbleiter zur präzisen Messung und Analyse statischer Parameter von Leistungshalbleiter‑Bauelementen. Es unterstützt bis zu 3 kV (10 kV optional) und 2200 A, Schnellimpulsbetrieb ...
... Ferritmaterialien usw.
... Testbare Materialien: - Halbleiter materialien: SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe und Ferrit materialien usw.; - Materialien mit niedriger Impedanz: Graphen, Metalle, transparente Oxide, schwach magnetische Halbleiter ...
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- Entwicklung thermoelektrischer Materialien: Messung von Seebeck‑Koeffizient und elektrischer Leitfähigkeit für Halbleiter, Skutterudite und andere TE‑Materialien; ZT‑Berechnung und Hochtemperatur‑Bewertung bis 1500°C oder unter
... Anwendung: Wir sind Hersteller von Serienprodukten für elektrische Vibrationen, die die "Doppelmagnetkreisstruktur", "selbstgenerierte Skelett-Aktionskreise", "Luftunterstützung" und "Rollenlager und Linearführung", "Zapfenisolation", fortschrittliche ...
... Produktbeschreibung
Das MX710D‑System ist ein dynamisches Prüfgerät für SiC im Laborbereich und besteht aus einem hochpräzisen programmierbaren DC‑Netzteil, einer Prüfaufbau‑Einheit (Fixture), einer Mess‑ und Steuereinheit, einer Treibersteuerungseinheit, ...
... Systemmerkmale: - IPM-Testkit basierend auf STS8200 - Testspezifikation: 2000V/100A DC, 200A dynamischer AC - Unterstützt statische und dynamische Parameterprüfung - Programmierbarer Doppel- und Mehrfachimpuls TRR/IRR/TRI/TFV/TON/TCON/EON/TFI/TRV/TOFF/TCOFF/EOFF, ...
... PMST Power Device Analyzer Statisches Testsystem für MOSFET BJT IGBT und SiC GaN Halbleiter Das Prüfsystem für statische Parameter von Leistungsbauelementen (PMST) integriert eine Vielzahl von Mess- und Analysefunktionen, ...
Wuhan Precise Instrument Co.,Ltd
... Bildsensoren für aktuelle und zukünftige Geräte und gewährleistet dabei die niedrigsten Testkosten. - Fortschrittliches Testsystem für Bildsensoren, das sowohl für aktuelle als auch für zukünftige Geräte entwickelt wurde. - Optimiert ...
Teradyne
... Produktübersicht
Das modulare Präzisionsprüfsystem MP5000 von Tektronix ist von Haus aus erweiterbar. Nehmen Sie heute SMU- und PSU-Module und erweitern Sie das System später. Hohe Kanaldichte und schneller Modulwechsel minimieren Ausfallzeiten ...
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