Testsystem für Wärmezyklus SM-ZOV665-W5K

funktionale SicherheitAlterungLeistungsfähigkeit

SANWOOD Einzeltür-Testsystem für dynamisches IC-Burn-in und HTOL-Tests Das SANWOOD SM-ZOV665-W5K kombiniert eine temperaturgeregelte Kammer mit programmierbaren elektrischen Testmustern für dynamische Burn-in- und HTOL-Tests (High-Temperature Operating Life). Es testet ICs unter Last auf Burn-in-Platinen (BIBs) bei erhöhten Temperaturen und ermöglicht es Ingenieuren, das Verhalten der Bauelemente unter thermischer und elektrischer Belastung zu überwachen. Wichtigste Merkmale Programmierbare Testvektoren zur Beanspruchung der IC-Logik und des Speichers während des Burn-in Stromisolierung auf Steckplatzebene und programmierbare Strombegrenzungen Protokollierung von Spannung, Strom und Temperatur pro Steckplatz für die Fehleranalyse Technische Daten Modell — SM-ZOV665-W5K, Konfiguration mit einer Tür Temperaturbereich der Kammer — Umgebungstemperatur +10 °C bis +150 °C Kapazität für Burn-in-Platinen – 16 Steckplätze Größe der Burn-in-Platinen – 450 × 570 mm Signalkanäle – insgesamt 184, davon 160 gemeinsame Treiberkanäle und 24 I/O-Kanäle Maximale Systemwiederholungsrate – 20 MHz Vektorspeicher – 64 Mio. Wörter Kapazität des Fehlerprotokolls – 2K pro E/A Gerätestromversorgung – 8 Kanäle pro BIB in der Standardkonfiguration Innenabmessungen (B × H × T) – 800 × 1.320 × 630 mm Außenabmessungen (B × H × T) – 1.920 × 2.287 × 1.600 mm Anpassungsmöglichkeiten Die Innenabmessungen der Kammer und die Konfigurationen der Testgestelle können an Ihre BIB-Abmessungen, den Abstand zwischen den Leiterplatten und Ihre Beladungsanforderungen angepasst werden. Anwendungen und Testreferenzen Geeignet für das Burn-in-Screening und die Bewertung der Lebensdauer von SoCs für die Automobilindustrie, Mikrocontrollern, KI-Beschleunigern, Speicher-ICs und Power-Management-ICs. Je nach Bauteil und Testplan gehören zu den relevanten Referenzen JEDEC JESD22-A108 für HTOL, AEC-Q100 Test B1 für HTOL von Automobil-ICs und MIL-STD-883 Methode 1015 für das Einbrennen von Mikroschaltungen. Für einen Konfigurationsvorschlag teilen Sie uns bitte Ihren Gerätetyp, BIB-Zeichnungen, die elektrische Last und das gewünschte Testprofil mit. Produktseite — https://www.sanwood.us/products/189.html E-Mail — [email protected]