Testsystem für Wärmezyklus SC-588-CD-F
funktionale SicherheitAlterungLeistungsfähigkeit

Testsystem für Wärmezyklus - SC-588-CD-F - Sanwood Technology - funktionale Sicherheit / Alterung / Leistungsfähigkeit
Testsystem für Wärmezyklus - SC-588-CD-F - Sanwood Technology - funktionale Sicherheit / Alterung / Leistungsfähigkeit
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Eigenschaften

Art der ophtalmischen Tests
Leistungsfähigkeit, Thermo, funktionale Sicherheit, für Wärmezyklus, Alterung
Bereich
für die Elektronik
Betätigung
für Halbleiter, für integrierte Schaltungen, PCB, Speicher
Form
stationär
Weitere Eigenschaften
automatisch, mit Mehrfachwandler

Beschreibung

SANWOOD eMMC-Speicher-Einbrenntestsystem Das SANWOOD eMMC-Speicher-Einbrenntestsystem kombiniert kontrollierte Kammertemperaturen mit programmierbaren Lese-, Schreib- und Löschsequenzen. Es hält eMMC-Bausteine während der thermischen Belastung aktiv und testet mehrere Bausteine parallel für die Produktionsauslesung, Dauerbelastungstests und die Bewertung der Datenspeicherdauer. Wichtigste Merkmale Paralleles Testen von eMMC-Bausteinen auf Testplatinen mit hoher Packungsdichte Unabhängig programmierbare VCC- und VCCQ-Versorgungen für Spannungsreserveprüfungen an jedem Steckplatz Konfigurierbare Lese-, Schreib- und Löschmuster zur Beanspruchung des integrierten Flash-Controllers während des Burn-in Überwachung auf Steckplatzebene zur Erkennung fehlerhafter Geräte während des parallelen Testens Modelle und Spezifikationen Temperaturregelbereich der Kammer — −70 °C bis 150 °C SC-588-CD-F – 588 l Einzelkammer Innenabmessungen des SC-588-CD-F (B × H × T) – 800 × 1.050 × 700 mm Außenabmessungen des SC-588-CD-F (B × H × T) — 1.890 × 1.925 × 1.520 mm LS407H – Zweikammer-Konfiguration LS407H Außenabmessungen (B × H × T) – 4.000 × 2.120 × 1.520 mm Anpassungsmöglichkeiten Die Innenabmessungen der Kammern und die Konfigurationen der Testgestelle können an die Abmessungen Ihrer Testplatinen, den erforderlichen Abstand zwischen den Platinen und die angestrebte Anzahl an Steckplätzen angepasst werden. Anwendungen und Testreferenzen Entwickelt für eingebettete Speichersysteme, die in der Automobilelektronik, in industriellen Steuerungen, Netzwerkgeräten und IoT-Geräten zum Einsatz kommen. Testpläne können sich auf JEDEC JESD84-B51 für die eMMC 5.1-Schnittstelle und, sofern zutreffend, auf JESD22-A117 oder AEC-Q100-005 für die Bewertung der Lebensdauer und Datenerhaltung beziehen. Für einen Konfigurationsvorschlag teilen Sie uns bitte Ihren eMMC-Gehäusetyp, die Zeichnungen der Testplatine, die angestrebte Anzahl der Steckplätze und das Temperaturprofil mit. Produktseite — https://www.sanwood.us/products/190.html E-Mail — [email protected]

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

electronica Munich 2026
electronica Munich 2026

10-13 Nov. 2026 Munich (Deutschland) Halle C2 - Stand 130

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    Semicon
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