MOSFET-Testsysteme

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Impedanz-Testsystem
Impedanz-Testsystem
FTI-1000 Wafer HV

... Erweiterung

  • Umfassende elektrische Abdeckung — Unterstützt DC‑ und AC‑parametrische Tests zur Charakterisierung von MOSFETs und Leistungshalbleitern
  • Zugängliche Softwaresteuerung — FTI Studio bietet Probe‑Card‑Bring‑up,
  • ...

    MOSFET-Testsystem
    MOSFET-Testsystem
    MX300C

    ... hauptsächlich für Leistungszyklustests und thermische Widerstandstests von Leistungshalbleitern wie IGBT (Si/SiC/GaN-Materialien), MOSFET, DIODE usw., um die Leistung von Leistungshalbleitern während der Lebensdauer zu bewerten. Funktionen Leistungszyklustest ...

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    Hefei Kewell Power System Co., Ltd.
    Leistungsfähigkeitstestsystem
    Leistungsfähigkeitstestsystem
    MX700S

    ... >

  • Unterstützt Hochgeschwindigkeitsprüfungen in der Produktionslinie
  • Entspricht dem Prüfstandard JEP183A für SiC-MOSFET
  • PN-Erfassung per Barcode-Scanner und automatische Erstellung von Prüfberichten
  • Benutzerfreundliche
  • ...

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    Hefei Kewell Power System Co., Ltd.
    Testsystem für die Elektronik
    Testsystem für die Elektronik
    STS8202

    ... Multi-Site- MOSFET- Testsystem-STS8202 System Merkmal: - MOSFET-Wafer-Test an bis zu 16 Standorten, 100V/10A pro Standort-Test - Hochspannungstest-Option bis zu 1000V - UIS-Testoption bis zu 10A - Andere ...

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    Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
    Testsystem für die Elektronik
    Testsystem für die Elektronik
    STS8203

    ... Diskretes Leistungsprüfsystem-STS8203 Systemmerkmale: - Fokus auf den Test von diskreten Leistungsbauelementen wie MOSFET, Schottky, IGBT - 2000v/ 200A DC Testfähigkeit - UIS , DVDS und ZMU (Ciss/Coss/Crss/Rg) Testoption - Multifunktionaler ...

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    Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
    Testsystem für die Elektronik
    Testsystem für die Elektronik
    PMST

    ... PMST Power Device Analyzer Statisches Testsystem für MOSFET BJT IGBT und SiC GaN Halbleiter Das Prüfsystem für statische Parameter von Leistungsbauelementen (PMST) integriert eine Vielzahl von Mess- und Analysefunktionen, ...

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    Wuhan Precise Instrument Co.,Ltd
    Testsystem für Kapazitätsfaktor
    Testsystem für Kapazitätsfaktor

    ... Kapazitäts-Spannungs-Messungen (C-V) werden häufig zur Messung von Halbleiterparametern verwendet, insbesondere bei MOS-CAP- und MOSFET-Strukturen. Die Kapazität der MOS-Struktur (Metall-Oxid-Halbleiter) ist eine Funktion der angelegten ...

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    Wuhan Precise Instrument Co.,Ltd
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