Leistungsfähigkeitstestsystem MX700S

MOSFETfür IGBTstationär

Produktübersicht
Das statische Prüfsystem MX700S besteht aus einer Hochspannungsversorgungseinheit, einer Prüfaufbaueinheit, einer Messeinheit, einer Relais-Schalteinheit, einer gepulsten Stromquelle und zugehörigen Prüfgeräten. Es verwendet die firmeneigene Systemtestsoftware und bietet eine stabile und präzise Plattform zur Messung statischer Kennlinien von Leistungshalbleitern. Geeignet für statische Prüfungen von IGBT, SiC und Dioden.

Datenblatt
(Das Datenblatt wird auf der Seite als Bild dargestellt)

Produkteigenschaften

• Schalteinheit mit bis zu 24 Kanälen; unterstützt Doppelimpulsprüfungen und Shunt-Abtastung
• Unterstützt Hochgeschwindigkeitsprüfungen in der Produktionslinie
• Entspricht dem Prüfstandard JEP183A für SiC-MOSFET
• PN-Erfassung per Barcode-Scanner und automatische Erstellung von Prüfberichten
• Benutzerfreundliche HMI für einfache und effiziente Bedienung

Technische Merkmale / Spezifikationen

• Systemaufbau: Hochspannungsversorgungseinheit, Prüfaufbaueinheit, Messeinheit, Relais-Schalteinheit, gepulste Stromquelle und zugehörige Prüfgeräte
• Software: firmeneigene Systemtestsoftware
• Anwendbare Bauteile: statische Prüfung von IGBT, SiC, Dioden und anderen Leistungshalbleitern
• Kanäle: bis zu 24-Kanal-Schalteinheit
• Prüffähigkeiten: Doppelimpulsprüfung, Shunt-Abtastung, Hochgeschwindigkeitsprüfungen in der Produktionslinie
• Normunterstützung: Prüfstandard JEP183A für SiC-MOSFET
• Funktionen: PN-Eingabe per Barcode-Scanner; automatische Erstellung von Prüfberichten; benutzerfreundliche HMI