Testsystem für Labor MX710D SiC

für HalbleiterstationärPräzision

Produktbeschreibung
Das MX710D‑System ist ein dynamisches Prüfgerät für SiC im Laborbereich und besteht aus einem hochpräzisen programmierbaren DC‑Netzteil, einer Prüfaufbau‑Einheit (Fixture), einer Mess‑ und Steuereinheit, einer Treibersteuerungseinheit, einer Schutzeinheit sowie zugehörigen Prüfmitteln. Es verwendet firmeneigene Systemtestsoftware, um eine stabile und präzise Plattform für die dynamische Charakterisierung von SiC‑Bauelementen bereitzustellen, einschließlich Einschalt-, Ausschalt-, Dioden‑Rücklauf- und Kurzschlusseigenschaften.

Produkteigenschaften

• Für Laboranwendungen ausgelegt mit umfassenden Prüf­funktionen; unterstützt Einzelimpuls-, Doppelimpuls- und Kurzschlussprüfungen;
• Verfügt über Überstromschutz, der im Fehlerfall die Stromschleife schnell unterbricht;
• Sehr geringe Streuinduktivität durch kompakte Auslegung zur Erfüllung der Hochgeschwindigkeits‑Schaltprüfungen von SiC;
• Hohe Kompatibilität: konfigurierbar für verschiedene Bauelemente, Module und Schaltungen durch passende Ausstattung und Prüfaufbauten;
• Benutzerfreundliche HMI für einfache Bedienung.

Produktoberfläche / Bilder
(Die Seite enthält mehrere Platzhalter für Demo‑Bilder; auf der tatsächlichen Seite werden Produktdiagramme und Screenshots der Benutzeroberfläche gezeigt)

Anwendungsbereich
Geeignet für Labore zur Prüfung der dynamischen Eigenschaften von Siliziumkarbid (SiC) Leistungshalbleitern, zur Parameterverifikation und F&E.

Eigenschaften / Technische Daten (Übersicht)

• Modell: Serie MX710D;
• Anwendbare Bauelemente: SiC (Siliziumkarbid) Leistungshalbleiter;
• Systembestandteile: programmierbares DC‑Netzteil, Fixture‑Einheit, Mess‑ und Steuereinheit, Treibersteuerungseinheit, Schutzeinheit und zugehörige Prüfmittel;
• Unterstützte Prüfarten: Einschalt-, Ausschalt-, Dioden‑Rücklauf- und Kurzschlussprüfungen; unterstützt Einzel‑ und Doppelimpulsprüfungen;
• Schutzfunktionen: Überstromschutz mit schneller Unterbrechung der Schleife;
• Konstruktionsanforderung: niedrige Streuinduktivität zur Erfüllung der Hochgeschwindigkeits‑Schaltprüfungen von SiC‑Bauelementen;
• Software: firmeneigene Systemtestsoftware und HMI.