Labor-Testsystem IP750Ex-HD

für die Elektronikfür Halbleiterfür Kameramodul

Das IP750Ex-HD bietet Testmöglichkeiten für Bildsensoren für aktuelle und zukünftige Geräte und gewährleistet dabei die niedrigsten Testkosten. - Fortschrittliches Testsystem für Bildsensoren, das sowohl für aktuelle als auch für zukünftige Geräte entwickelt wurde. - Optimiert für hohen Durchsatz und niedrige Testkosten. - Unterstützt eine breite Palette von Bildsensortechnologien und -konfigurationen. - Flexible Architektur zur Anpassung an sich ändernde Geräteanforderungen. - Entwickelt für Zuverlässigkeit und Skalierbarkeit in Produktionsumgebungen. Vorteile und Konfigurationen: - Hochdichte Pin-Elektronik für parallele Tests. - Konfigurierbare Testressourcen zur Anpassung an die Geräteanforderungen. - Umfassende Software-Tools für Testentwicklung und Datenanalyse. - Nahtlose Integration mit automatisierten Handhabungssystemen. Typische Anwendungen: - Testen von CMOS- und CCD-Bildsensoren. - Qualitätssicherung für Automobil-, Mobil- und Industrie-Bildgebungsgeräte. - Produktions- und Ingenieurtestumgebungen. Hauptmerkmale: - Hohe Parallelität für erhöhten Durchsatz. - Niedrige Besitz- und Betriebskosten. - Zukunftssichere Plattform, die neue Sensortechnologien unterstützt. Technische Spezifikationen / Merkmale: - Hochdichte Pin-Elektronik - Konfigurierbare Testressourcen - Umfassende Software-Suite - Integration mit Automatisierung - Unterstützung für CMOS- und CCD-Sensoren - Skalierbare Architektur