Testsystem / spez. Widerstand DXHCR1100

Prozessfür Halbleiterfür Brennstoffzellen

Produktübersicht
Die Dexinmag‑Geräte messen die thermoelektrische Wechselwirkung (Seebeck-, Peltier-, Thomson‑Effekte) durch gleichzeitige Erfassung von Seebeck‑Koeffizient und Resistivität von Raumtemperatur (RT) bis 1500°C. Die thermoelektrische Spannung (Seebeck‑Koeffizient) wird in V/K angegeben und ist temperaturabhängig. Die Plattform DXHCR1100 unterstützt gesteuerte Atmosphären und flexible Probengeometrien für Forschung & Entwicklung sowie Qualitätskontrolle.

Anwendungsgebiete

• Entwicklung thermoelektrischer Materialien: Messung von Seebeck‑Koeffizient und elektrischer Leitfähigkeit für Halbleiter, Skutterudite und andere TE‑Materialien; ZT‑Berechnung und Hochtemperatur‑Bewertung bis 1500°C oder unter kontrollierten Atmosphären (Vakuum/reduzierend/oxidierend).
• Charakterisierung elektronischer und funktionaler Materialien: Untersuchung des elektrischen Transports in Halbleiter‑Dünnfilmen, leitfähigen Polymeren und Metalloxiden; Widerstands‑Temperatur‑Profile von Hochtemperatur‑Supraleitern und keramischen Verbundwerkstoffen.
• Energiewerkstoffe und Bauteile: Analyse von Resistivität und Kontakt/Interface‑Eigenschaften für Li‑ion Elektrod️en und Festelektrolyte; Leitfähigkeitsprüfung von Katalysatoren für Brennstoffzellen in verschiedenen Atmosphären.
• Industrielles QC und Prozessoptimierung: thermoelektrische Prüfungen von Legierungen, Keramiken und Kohlenstoffmaterialien zur Steuerung des Sinterns; Bewertung von Hochtemperatur‑ und korrosionsbeständigen Beschichtungen.
• Akademische Forschung und Normprüfungen: Plattform geeignet für Universitäten, Forschungseinrichtungen und Zertifizierungsprüfungen nach Normen (z. B. ASTM E1225).

Prüffunktionen

• Integrierte, intelligente Messsoftware (Windows 10/11) für automatische Anregung, Datenerfassung, Echtzeit‑Verarbeitung und Ergebnisexport.
• Vorlagenbearbeitung und minimale Parametereingabe für reproduzierbare Messabläufe.
• Echtzeitmessung und ‑analyse, Vergleich von bis zu 32 Messkurven, Kurvensubtraktion und Überlagerung.
• Erweiterte Analysetools: Kurvenzoom, erste/zweite Ableitung, Mehrfachpeakanalyse und Unterstützung komplementärer Methoden (DSC, TG, TMA, DIL).
• Mehrpunkt‑Temperaturkalibrierung und Enthalpie/Heat‑Flow Cp‑Routinen; ASCII‑Import/Export und MS‑Excel‑Export.
• Sequenzierte Signalsteuerung und Unterstützung für Langzeit‑Experimente.

Produktvorteile

• Großer Temperaturbereich und gesteuerte Atmosphären: RT bis 800/1100/1500°C (Optionen); kompatibel mit inerten, oxidierenden, reduzierenden Atmosphären und Vakuum.
• Hohe Präzision und integrierte Messmodi: Seebeck‑Bereich 1–2500 μV/K (Genauigkeit ±7%, Wiederholbarkeit ±3%); elektrische Leitfähigkeit 0,01–2×10⁵ S/cm (Genauigkeit ±5–8%, Reproduzierbarkeit ±3%). Messverfahren: statisches DC für Seebeck, Vier‑Kontakt für Resistivität.
• Flexible Probennahme: unterstützt Zylinder (φ6 mm × 23 mm), Prismen (2–5 mm Stirnfläche × 23 mm) und Scheiben (10 / 12,7 / 25,4 mm); einstellbare Sondenabstände 4/6/8 mm und Sandwich‑Klemmvorrichtung.
• Langzeitstabilität und Hochtemperaturbetrieb: Netzteil 0–1 A mit stabiler Ausgabe; Elektroden wahlweise Nickel (−100–500°C) oder Platin (−100–1500°C); K/S/C Thermoelemente und Regelung im geschlossenen Regelkreis.

Produkt­spezifikationen

• Modell: DXHCR1100
• Temperaturbereich: RT bis 800/1100/1500°C (konfigurierbar)
• Messprinzipien: Seebeck — statisches DC; Resistivität — Vier‑Kontakt
• Atmosphären: inert, oxidierend, reduzierend, Vakuum
• Probenhalter: Sandwich‑Klemme zwischen zwei Elektroden
• Unterstützte Probenabmessungen: Zylinder φ6×23 mm; Prisma 2–5 mm × 23 mm; Scheiben 10 / 12,7 / 25,4 mm
• Einstellbarer Sondenabstand: 4 / 6 / 8 mm
• Seebeck‑Bereich: 1–2500 μV/K (±7% Genauigkeit, ±3% Wiederholbarkeit)
• Messbereich elektrische Leitfähigkeit: 0,01–2×10⁵ S/cm (±5–8% Genauigkeit, ±3% Reproduzierbarkeit)
• Netzteil: 0–1 A (stabile Ausgabe)
• Elektrodenmaterial: Nickel (−100 bis 500°C) / Platin (−100 bis +1500°C)
• Thermoelemente: Typen K / S / C

Technische Daten

• Modell: DXHCR1100
• Temperaturoptionen: RT–800/1100/1500°C
• Seebeck‑Methode: statisches DC
• Resistivitäts‑Methode: Vier‑Kontakt
• Kompatible Atmosphären: inert, oxidierend, reduzierend, Vakuum
• Sondenabstand: 4 / 6 / 8 mm
• Probentypen: Zylinder, Prismen, Scheiben (Abmessungen oben)