Testsysteme für integrierte Schaltungen

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Testsystem für Wärmezyklus
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SMG2-600-CB-W

... SANWOOD-Speicher-Burn-in-Testsystem Integrierte Burn-in- und Funktionstests für Speicher-ICs Das SANWOOD-Speicher-Burn-in- Testsystem vereint kontrollierte thermische ...

Labor-Testsystem
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DMT EVO

... ist ein kompaktes Mixed‑Signal‑ und Digital‑Automatiktestsystem (ATE) zur effizienten Charakterisierung und Validierung von ICs in F&E, Labor, Vorserien‑ und Post‑Produktionsphasen. Das modulare Mainframe bietet bis zu 5 Steckplätze zur ...

Labor-Testsystem
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Quasar200

... Produkt
ITEM 776-030-00 — Leistungscharakterisierungsgeräte

Überblick
Wide-bandgap-(WBG)-Leistungsbauelemente wie SiC und GaN erfordern aufgrund höherer Leistungen, schnelleren Schaltvorgängen und strenger Normen (JESD 24-9, ...

Testsystem für die Elektronik
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STS8200

... Analog-IC-Tester-STS8200 Systemmerkmal: - Bis zu 26 Steckplätze im Mainframe - Fokus auf Analog-, Linear-, PMIC- und Power-IC - Volle potentialfreie V/I-Quelle mit 16-Bit-Digitalisierer pro Pin und AWG - Hochspannungs-V/I-Quelle, und Hochleistungs-V/I-Quelle ...

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Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
Testsystem / beschleunigte Alterung
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LDBI

... und gealtert werden müssen, sowie für die ernsthafte Erwärmung von Chips und so weiter. Es ist eine Reihe von universellen, hohe Leistung, zirkulierende Wasserkühlung Alterung Testsystem. Das Produkt hat gute Konstantstromeigenschaften ...

Testsystem für integrierte Schaltungen
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BAT-NEDQ-04-V010

... schützenden Eigenschaften von Single-Bus-Li-Ionen-Batterieschutzplatinen für 1s- und 2s-Batterien schnell zu bewerten, die ICs der US-TI-Serie verwenden (z. B. BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2753X). Kompatibel mit ...

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Fujian Nebula Electronics Co., Ltd.
Testsystem für die Elektronik
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VERTA series

... -Optik- und Elektrik-Busverbindungen. - Bietet fortschrittliche optische Schaltmöglichkeiten für automatisierte Testsysteme. - Integriertes Energiemanagement für präzise Steuerung und Überwachung. - Unterstützt eine breite ...

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Teradyne
elektrisches Testsystem
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MP5000

... Kanaldichte: bis zu 6 Kanäle pro 1U-Mainframe

  • Schneller Modulwechsel zur Minimierung von Ausfallzeiten
  • Integrierter TSP-Prozessor (On-Instrument Test Script Processing) für skalierbare Automatisierung
  • Synchronisation
  • ...

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