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... konfigurierbares ATE für Tests an Leistungshalbleitern, einschließlich diskreter Bauteile, Powermodule und Treiber‑ICs. Es integriert mehrkanalige DC‑Quellen und‑senken, kanalbezogene Messmodule, hochdichte digitale I/O mit per‑Pin Mess-/Quellfunktionen ...
... ist ein kompaktes Mixed‑Signal‑ und Digital‑Automatiktestsystem (ATE) zur effizienten Charakterisierung und Validierung von ICs in F&E, Labor, Vorserien‑ und Post‑Produktionsphasen. Das modulare Mainframe bietet bis zu 5 Steckplätze zur ...
... eine ATE-Plattform (automated test equipment) für die Charakterisierung und die produktionstauglichen Tests von Smart Power ICs und SoCs mit hohem Parallelitätsgrad. Das System basiert auf einem modularen Mainframe, der bis zu 10 Steckplätze ...
... Analog-IC-Tester-STS8200 Systemmerkmal: - Bis zu 26 Steckplätze im Mainframe - Fokus auf Analog-, Linear-, PMIC- und Power-IC - Volle potentialfreie V/I-Quelle mit 16-Bit-Digitalisierer pro Pin und AWG - Hochspannungs-V/I-Quelle, und Hochleistungs-V/I-Quelle ...
Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
... und gealtert werden müssen, sowie für die ernsthafte Erwärmung von Chips und so weiter. Es ist eine Reihe von universellen, hohe Leistung, zirkulierende Wasserkühlung Alterung Testsystem. Das Produkt hat gute Konstantstromeigenschaften ...
... schützenden Eigenschaften von Single-Bus-Li-Ionen-Batterieschutzplatinen für 1s- und 2s-Batterien schnell zu bewerten, die ICs der US-TI-Serie verwenden (z. B. BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2753X). Kompatibel mit ...
Fujian Nebula Electronics Co., Ltd.
... -Optik- und Elektrik-Busverbindungen. - Bietet fortschrittliche optische Schaltmöglichkeiten für automatisierte Testsysteme. - Integriertes Energiemanagement für präzise Steuerung und Überwachung. - Unterstützt eine breite ...
Teradyne
... Kanaldichte: bis zu 6 Kanäle pro 1U-Mainframe
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