Mikroskop-Objektiv / Mikro CFI60

für Mikroskopiefür ForschungszweckeInspektion

Übersicht
Die CFI60-2-Objektive sind eine Weiterentwicklung der CFI60-Serie und verbinden hohe numerische Apertur (NA) mit verlängertem Arbeitsabstand für industrielle Mikroskopie und Inspektionsanwendungen. Mit Nikons Phasen‑Fresnel‑Linse (beugungsoptisches Element) bieten CFI60-2-Objektive verbesserte chromatische Korrektur und lange Arbeitsabstände über ein breites Vergrößerungsspektrum.

CFI60-2 — Hauptmodelle & Bereiche

• Vergrößerungen: 1×, 2,5×, 5×, 10×, 20×, 50×, 100×, 150× (modellabhängig).
• Numerische Apertur (NA): ca. 0,03–0,95 je nach Modell.
• Arbeitsabstand (WD): ca. 0,30–37,00 mm, einschließlich ELWD- und SLWD‑Varianten für erweiterten Zugang.
• Optische Typen: Achromat, Semi‑Apochromat (Universal Plan Fluor / TU Plan Fluor), Apochromat (Plan Apo).
• Spezialvarianten: Polarisationsmodelle, Hellfeld/Dunkelfeld (BD), lange/extra lange WD und Interferometrie‑Objektive (XA/TI).

Hinweise (CFI60-2)
*1 Phasen‑Fresnel‑Linse (beugungsoptisches Element).
*2 Bei den T Plan EPI 1×/2,5× Modellen sind eine zirkulare Polarisationsplatte und ein Depolarisator eingebaut; die zirkulare Polarisationsplatte kann angebracht oder entfernt werden.

CFI60 — Übersicht
CFI60‑Objektive sind für den CFI60‑Standard (60 mm parfokaler Abstand) von Nikon ausgelegt und ermöglichen eine Verlängerung des Arbeitsabstands bei Beibehaltung hoher NA für hochauflösende, kontrastreiche Abbildungen in Industrie und Forschung.

CF unendlichkorrigierte Objektive — Übersicht
CF unendlichkorrigierte Objektive kombinieren bewährte CF‑Optik mit Unendlichkorrektur, um Streulicht (Flare) zu minimieren und hochauflösende, kontrastreiche Bilder zu liefern. Serien umfassen Standard-, ELWD-, SLWD‑ und Apochromat‑Varianten.

Charakteristiken / technische Spezifikationen

• Hersteller / Marke: Nikon.
• Parfokaler Abstand: 60 mm (CFI60‑Standard).
• Vergrößerungsbereich: 1×–150× (modellabhängig).
• Numerische Apertur (NA): ~0,03–0,95.
• Arbeitsabstand (WD): ~0,30–37,00 mm (inkl. ELWD/SLWD‑Optionen).
• Optische Elemente: Phasen‑Fresnel‑Linse in CFI60-2 zur Verlängerung des WD und Korrektur chromatischer Aberrationen.
• Spezialmodelle: Interferometrie (DI/TI/XA), LCD‑Inspektion mit Korrekturmechanismus (CFI L Plan EPI CR), Polarisationsvarianten.