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Optischer Imaging-Analyse-System NIS-Elements

Optischer Imaging-Analyse-System - NIS-Elements - Nikon Metrology
Optischer Imaging-Analyse-System - NIS-Elements - Nikon Metrology
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Eigenschaften

Typ
optisch

Beschreibung

Produktübersicht
NIS-Elements ist eine Bildverarbeitungsplattform für die Mikroskopie, die Nikon-Mikroskope und Nikon Digital Sight Kameras steuert, um Bilder zu erfassen, zu organisieren und innerhalb strukturierter Workflows zu verarbeiten. Die Software richtet sich an Forschung und industrielle Anwendungen und bietet modulare Funktionen für Akquisition, Analyse und Dokumentation.

Verfügbare Editionen
  • NIS-Elements AR (Advanced Research): umfassendes Paket für anspruchsvolle Forschungsworkflows und komplexe Erfassungsabläufe.
  • NIS-Elements BR (Basic Research): für Standardforschung konzipiert; unterstützt bis zu 4D-Akquisition und erweiterte Gerätesteuerung.
  • NIS-Elements D (Documentation): auf Fotodokumentation ausgerichtetes Paket mit grundlegenden Mess- und Berichtsfunktionen.
  • NIS-Elements L / LE: Tablet-kompatible Editionen zur Bildanzeige und einfachen Steuerung der Aufnahmeeinstellungen unterstützter Digital Sight Kameras.


Produkthighlights / Anwendungsfälle
NIS-Elements bietet multidimensionale Erfassung, Image-Stitching für großflächige Ansichten, HDR- und EDF-Erstellung, automatisierte Messungen sowie normkonforme Materialanalysen. Typische Anwendungen: Mikroskopische Dokumentation, industrielle Inspektion, Materialcharakterisierung (Korngröße, Gusseisenanalyse) und automatisierte Bild-Workflows.

Wesentliche Funktionen und Module
  • Image Stitching (Großbild): Zusammenfügen von Kacheln aus mehreren Sichtfeldern während der Aufnahme oder aus gespeicherten Bildern.
  • EDF (Extended Depth of Field): Erstellung eines vollständig scharfen Bildes aus mehreren Schärfeebenen (unterstützt motorisierte und manuelle Fokussierung).
  • HDR-Aufnahme: Kombination mehrerer Belichtungen zur Ausbalancierung von Helligkeit in dunklen und hellen Bereichen.
  • Automatische Messung / Objekterkennung: Binäre Schwellenwertbildung, Objekterkennung und Messungen nach Fläche, Größe, Pixelintensität und fraktionaler Analyse.
  • Korngrößenmodul: Korngrößenanalyse gemäß Normen (JIS G0551, ASTM E112-13, E1382-97, ISO 643, GB/T 6394).
  • Gusseisenmodul: Analyse der Gusseisenstruktur zur Bestimmung des Graphitgehalts und Klassifizierung (JIS G5502, ASTM A247-06, ISO 945-1).
  • Tablet-Unterstützung und Kamerasteuerung für kompatible Nikon Digital Sight Kameras (NIS-Elements L/LE).


Kompatibilität & Integration
  • Entwickelt für den Einsatz mit Nikon-Mikroskopen und Nikon Digital Sight Kameras (z. B. Digital Sight 1000, DS‑Fi3, DS‑Ri2).
  • Unterstützt die Steuerung motorisierter Tische und weiterer Peripheriegeräte für erweiterte Erfassungsmodi.
  • Verfügbar als Desktop-Editionen mit optionalen Modulen und als Tablet-Editionen für mobile Einsätze.


Technische Daten
  • Editionen: AR, BR, D, L / LE.
  • Akquisition: Unterstützung bis zu 4D (BR) einschließlich Z-Serien, Time-Lapse und Mehrkanal-Aufnahmen.
  • Optionale Module: Image Stitching, EDF, HDR-Aufnahme, automatische Messung, Korngrößenbestimmung, Gusseisenanalyse.
  • Normen: Materialanalyse-Module beziehen sich auf JIS-, ASTM- und ISO-Normen je nach Funktion (siehe Moduldokumentation).

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Industriemikroskopie

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.