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Optisches Stereomikroskop SMZ800N
für Qualitätskontrollefür die Automobilindustriefür Halbleiter

Optisches Stereomikroskop - SMZ800N - Nikon Metrology - für Qualitätskontrolle / für die Automobilindustrie / für Halbleiter
Optisches Stereomikroskop - SMZ800N - Nikon Metrology - für Qualitätskontrolle / für die Automobilindustrie / für Halbleiter
Optisches Stereomikroskop - SMZ800N - Nikon Metrology - für Qualitätskontrolle / für die Automobilindustrie / für Halbleiter - Bild - 2
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Eigenschaften

Typ
optisch
Anwendungsbereich
für Qualitätskontrolle, für die Automobilindustrie, für Halbleiter, für Materialforschung, Industrie, für Forschungszwecke, für die Raumfahrtindustrie, für die Elektronik
Mikroskopkopf
trinokulares, binokular
Objektiv-Art
Achromatisch, plan, apochromatisch
Konfigurierung
Desktop, Tisch
Lichtquelle
koaxialer Beleuchtung
Weitere Eigenschaften
Digitalkamera, Zoom, ergonomisch, hochauflösend, großer Arbeitsabstand, mit schrägstellbarer Oberflache
Vergrößerung

Max: 540 unit

Min: 1 unit

Gewicht

6,8 kg
(15 lb)

Beschreibung

Kurzbeschreibung Das SMZ800N ist ein Stereomikroskop mit 8:1-Optikzoom (1×–8×) für industrielle Prüfung, Fehleranalyse und Materialforschung. Es liefert hochauflösende Bilder über den gesamten Zoombereich und eignet sich für Arbeitsplatz- oder Maschinenintegration.

Anwendungen
  • Fehleranalyse und Ursachenermittlung an elektronischen Bauteilen
  • Oberflächenuntersuchung, Risserkennung und Korrosionsstudien
  • Qualitätssicherung für Luft- und Raumfahrt, Automotive, Elektronik und Baustoffe
  • Untersuchung von Werkstoffen, Verbundwerkstoffen und Textilien


Produkthighlights
  • 8:1-Zoom mit großer Abdeckungsbreite des Vergrößerungsbereichs und großem Sichtfeld (1–8×)
  • Gleichbleibende Bildschärfe mit minimaler chromatischer Aberration dank Plan Apo WF- und ED Plan WF-Objektiven
  • Großes Sichtfeld bei niedrigen Vergrößerungen und zuverlässige Leistung bei hohen Vergrößerungen für QA und Integration
  • Kompatibel mit Nikon Digital Sight Kameras sowie vielfältigen Auf- und Durchlicht-Optionen und Stativen
  • Ergonomisches Design mit neigbaren Beobachtungstuben und bedienerorientierten Bedienelementen


Wesentliche Merkmale
  • Doppeltes Objektivwechsel-System (Revolver) zur Erweiterung des Vergrößerungsbereichs ohne Probenverlagerung; on-axis Vertikalansicht für Draufsicht auf Bohrungen oder Stiftstrukturen
  • Acht verfügbare Objektive (Plan Apo 0,5×/WF; Plan Apo 0,75×/WF; Plan Apo 1×/WF; ED Plan 1,5×/WF; ED Plan 2×/WF; Plan 1×; ED Plan 0,75×; Achro 0,5×) für Flexibilität bei Schärfentiefe und großem Arbeitsabstand
  • Verschiedene Okulare (C-W10×B, C-W15×, C-W20×, C-W30×) und Tubusvarianten (Binokular, Trinokular, kippbares Trinokular)
  • Breite Zubehörunterstützung für Kameras, Beleuchtung und Stative


Spezifikationen Optisches System: Parallel-Optik-Typ (Zoom-Typ)
Zoomverhältnis: 8:1
Zoombereich: 1–8× (Stops bei 1/2/3/4/6/8×)
Gesamtvergrößerung: 5–480× (abhängig von Okular und Objektiven); mit koaxialer Auflichtbeleuchtung: 22,5–540×
Tubus: Okularneigung: 20° (P-B Binokulartubus) / 15° (P-TL100 Trinokulartubus) / 0°–30° (P-TERG100 / P-TERG50 kippbare Trinokulare)
Okulare: C-W10×B (F.N. 22), C-W15× (F.N. 16), C-W20× (F.N. 12,5), C-W30× (F.N. 7)
Objektive: Plan Apo 0,5×/WF; Plan Apo 0,75×/WF; Plan Apo 1×/WF; ED Plan 1,5×/WF; ED Plan 2×/WF; Plan 1×; ED Plan 0,75×; Achro 0,5×
Arbeitsabstand: 78 mm (mit Plan 1×)
Gewicht (ca.): 6,8 kg (mit P-B Binokulartubus + C-PSN Flachstativ)

Technische Daten
  • Modell: SMZ800N
  • Optisches System: Parallel-Optik (Zoom-Typ)
  • Zoomverhältnis: 8:1
  • Zoombereich: 1–8×
  • Beispiel Gesamtvergrößerung: 5–480× (abhängig von Okular/Objektiv)
  • Beispiel Arbeitsabstand: 78 mm (mit Plan 1×)
  • Ca.-Gewicht: 6,8 kg (typische Konfiguration)

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Industriemikroskopie

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.