Optisches Mikroskop Eclipse Ci-POL
zur Materialuntersuchuingfür die Oberflächeninspektionfür Analyse

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Eigenschaften

Typ
optisch
Anwendungsbereich
zur Materialuntersuchuing, für die Oberflächeninspektion, für Analyse, für Forschungszwecke, für Gemmologie, zur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse, für Dünnschichtmessungen, für Lehrzwecke, Industrie, Mehrzweck, für Qualitätskontrolle, für Materialforschung, Rechtsmedizin
Ergonomie
aufrecht
Mikroskopkopf
trinokulares, binokular
Beobachtungstechnik
Hellfeld, Fluoreszenz, Polarisation, Spektral, Dunkelfeld, mit differentiellem Interferenzkontrast
Konfigurierung
Tischgerät, kompakt, tragbar
Lichtquelle
koaxialer Beleuchtung
Weitere Eigenschaften
modulares, Digitalkamera, hochauflösend, ergonomisch, für die Asbesterkennung, mit starker Vergrößerung, großer Arbeitsabstand, Bildverarbeitung, kostengünstig, leicht zu befüllen, mit hohem Kontrast, mit Lichtstärkekontrolle, mit veränderlicher Temperatur, Hochpräzision, für flaches Muster, zur Bilderfassung
Vergrößerung

Min: 5 unit

Max: 100 unit

Gewicht

14 kg
(30,9 lb)

Länge

271 mm
(10,7 in)

Breite

247 mm
(9,7 in)

Höhe

455 mm
(17,9 in)

Beschreibung

Die Polarisationsmikroskope der Serie ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL dienen zur Untersuchung der doppelbrechenden Eigenschaften anisotroper Proben durch Beobachtung von Bildkontrast und Farbveränderungen. Nikon bietet Systeme sowohl für quantitative als auch für qualitative Studien an. Alle Anwendungen von der Recherche bis zur täglichen Anwendung werden abgedeckt Die hervorragende Optik des Nikon CFI60-POL liefert exzellente Bilder für Okulare und Digitalkameras von Nikon. Der LV100N POL ermöglicht eine Reihe von Untersuchungen, von der Konoskopie bis zur Orthoskopie, unter Verwendung einer ganzen Reihe von speziellem Zubehör. Ci-POL ermöglicht eine Reihe von Studien mit einem kompakten Mikroskop. Nikon ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL Diese Geräte haben eine episkopische und diaskopische Funktion für die mineralogische Untersuchung von Grob- oder Dünnschliffen. Optisch aktive Materialien können für die Analyse von Zusammensetzung und Verteilung untersucht werden. Nikon CFI60-POL Objektivserie Die innovativen, spannungsfreien POL-Objektive von Nikon mit hohem Arbeitsabstand und hoher NA liefern klare, kontrastreiche Bilder für den Beobachter und die Digitalkamera. Diaskopische und episkopische Beleuchtung Episkopische Untersuchungen sind mit dem LV-UEPI-N Beleuchtungsgerät möglich. Das 12 V / 50 W Lampenhaus wird für die diaskopische und episkopische Beleuchtung verwendet. Das Umschalten der Beleuchtung von epi auf dia ist ein einfacher Vorgang.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.