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Optisches Stereomikroskop SMZ1270
für Materialforschungfür ProduktionsanlagenInspektion

Optisches Stereomikroskop - SMZ1270 - Nikon Metrology - für Materialforschung / für Produktionsanlagen / Inspektion
Optisches Stereomikroskop - SMZ1270 - Nikon Metrology - für Materialforschung / für Produktionsanlagen / Inspektion
Optisches Stereomikroskop - SMZ1270 - Nikon Metrology - für Materialforschung / für Produktionsanlagen / Inspektion - Bild - 2
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Eigenschaften

Typ
optisch
Anwendungsbereich
für Materialforschung, für Produktionsanlagen, Inspektion, für Qualitätskontrolle, Labor, Industrie
Ergonomie
aufrecht
Mikroskopkopf
trinokulares, binokular
Objektiv-Art
plan, apochromatisch
Konfigurierung
Tisch
Lichtquelle
LED-Beleuchtung
Optionen und Zubehör
Zubehör
Weitere Eigenschaften
USB, ergonomisch, Zoom, mit starker Vergrößerung, mit großem Sichtfeld und Arbeitsabstand, Digitalkamera
Vergrößerung

Min: 3,15 unit

Max: 480 unit

Gewicht

11,9 kg
(26,2 lb)

Beschreibung

Übersicht
Die SMZ1270 Serie bietet einen großen Zoombereich und hohe optische Leistung für die Beobachtung und Dokumentation feiner Objektmerkmale. Entwickelt für Materialwissenschaft, industrielle Inspektion und Inline-Prozesskontrolle; unterstützt Bildgebung, Messung und Integration digitaler Kameras.

Produktvorteile
  • Scharfe, kontrastreiche Bilder über einen weiten Vergrößerungsbereich für die detaillierte Inspektion kleiner Bauteile.
  • Klassensbestes optisches Zoomverhältnis 12,7:1 (0,63x–8x) für vielseitige Abdeckung ohne Änderung des Hauptoptikpfads.
  • Erweiterbarer Gesamtvergrößerungsbereich je nach Wahl von Okularen und Objektiven für unterschiedliche Prüfaufgaben.
  • Großes Sichtfeld bei niedriger Vergrößerung — bis zu 35 mm Durchmesser — für die Beobachtung größerer Proben ohne Umpositionierung.
  • Minimale chromatische Aberration und helle Bilder mit Plan Apo WF- und ED Plan WF-Objektiven.
  • Breite Kompatibilität mit Zubehör und Beleuchtungsständern zur Integration in Labor- und Produktionsabläufe.

Produkthighlights
  • SMZ1270i verfügt über einen intelligenten Datenanschluss (Smart-Zoom-USB), der die Position des Zoomwechslers an Bildverarbeitungssoftware meldet, damit Kalibrierungsanpassungen beim Zoomen automatisch erfolgen können.
  • Doppel-Objektivrevolver ermöglicht zwei Objektive zur Erweiterung des Vergrößerungsbereichs ohne Probenbewegung; der intelligente Revolver meldet das verwendete Objektiv.
  • Auf-Achse-Vertikalbetrachtung für planare Abbildungen von Bohrungen oder Stiftstrukturen ohne schrägen Blickwinkel.
  • Ergonomisches Design mit bedienerfreundlicher Positionierung der Bedienelemente und verstellbaren Betrachtungstuben für komfortables, ermüdungsarmes Arbeiten.

Anwendungen
  • Fehleranalyse und Überprüfung von Korrekturmaßnahmen.
  • Oberflächenprüfung von Bauteilen, Risserkennung und Korrosionsuntersuchungen.
  • Inspektion von Verbundwerkstoffen, Textilien und präzise bearbeiteten Teilen.
  • Qualitätskontrolle und Inline-Inspektion für Luft- und Raumfahrt, Fertigung und Baustoffkomponenten.

Optische Komponenten und Optionen
  • Okulare: C-W10xB (F.N. 22), C-W15x (F.N. 16), C-W20x (F.N. 12,5), C-W30x (F.N. 7).
  • Objektive: Plan Apo 0.5x/WF, Plan Apo 0.75x/WF, Plan Apo 1x/WF, ED Plan 1.5x/WF, ED Plan 2x/WF.
  • Tuben: P-B Binokulartubus, P-TL100 Trinokulartubus, P-TERG100 und P-TERG50 Trinokulare Kipptuben (verschiedene Neigungswinkel) zur Anpassung an Haltung und Imaging-Bedarf.
  • Große Auswahl an Zubehörfunktionen und Beleuchtungsbasen kompatibel mit der SMZ-Serie.

Spezifikationen (technisch)
  • Optisches System: Parallel-Optik-Typ (Zoom-Typ).
  • Zoomverhältnis: 12,7:1.
  • Zoombereich: 0,63 – 8x (Stops: 0,63 / 1 / 2 / 3 / 4 / 6 / 8x).
  • Gesamtvergrößerung: 3,15 – 480x (abhängig von Okular und Objektiven); mit koaxialem Auflicht: 15 – 540x.
  • Tuben: Beispiele für Okularneigung — 20° (P-B Binokulartubus) / 15° (P-TL100 Trinokulartubus) / 0°–30° (P-TERG100, P-TERG50 Kipptuben).
  • Okulare: C-W10xB (F.N. 22), C-W15x (F.N. 16), C-W20x (F.N. 12,5), C-W30x (F.N. 7).
  • Objektive: Plan Apo 0.5x/WF; Plan Apo 0.75x/WF; Plan Apo 1x/WF; ED Plan 1.5x/WF; ED Plan 2x/WF.
  • Arbeitsabstand: 70 mm (mit Plan Apo 1x/WF).
  • Gewicht (ca.): 11,9 kg (mit P-TERG100 Trinokularer Kipptubus + P-DSL32 LED-Durchlichtstativ).

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Industriemikroskopie

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.