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... DaVinci-Sockel für Hochgeschwindigkeitstests bieten eine revolutionäre Lösung für Robustheit und Signalintegrität in der Produktion. Das einzigartige IM-Material, das in der Konstruktion von DaVinci verwendet wird, ermöglicht eine wirklich ...
Smiths Interconnect
... Smith Interconnect ist führend in der Entwicklung und Herstellung von Lösungen für Package-on-Package (PoP) Tests. Der PoP-Test ist komplex in seinem Aufbau und erfordert ein gleichzeitiges Eingreifen von oben und unten im IC. Die Euklid-Lösung ...
Smiths Interconnect
... Gutenberg-Sockel erfüllen die Anforderungen der fortschrittlichsten Streifenprüfanwendungen. Sie sind für eine Zuverlässigkeit von Millionen Zyklen ausgelegt und eignen sich besonders gut für die aggressiven Auto-Clean-Technologien, die ...
Smiths Interconnect
... Der Celsius-Kontakt von Smiths Interconnect nutzt einen etwas längeren Signalweg, um erhebliche Vorteile in Bezug auf Compliance, Temperaturbehandlung und Strombelastbarkeit zu bieten. Als eigenständiger Kontakt verwendet Celsius ein ...
Smiths Interconnect
... Die einzigartige Präzision der schwimmenden Federsonden von Smiths Interconnect ermöglicht einen nahtlosen Einsatz bei der Prüfung von Wafer Level Chip Scale Gehäusen. Wir arbeiten eng mit unseren Kunden zusammen, um Schütze zu entwickeln, ...
Smiths Interconnect
... Der Testsockel DaVinci 112 erweitert die DaVinci"-Serie um eine innovative Lösung zum Testen der komplexesten Funktionen von ASICs (Application Specific Integrated Circuits). Das Testen dieser Geräte bei voller Funktionalität ist eine ...
Smiths Interconnect
... Hochleistungs-Scrub-Kontakttechnologie für Peripherie-IC Die Kepler-Kontakttechnologie kombiniert die Scheuerbewegung eines freitragenden Kontakts mit der Vielseitigkeit und Modularität eines Federkontakts. Das Design beinhaltet eine ...
Smiths Interconnect
... Der H-Pin®-Sockel der C-Serie ist ein modularer Burn-in-Sockel mit Clamshell-Deckel. Die kleine Grundfläche ermöglicht eine klassenbeste Auswahl an Gehäuseunterbringungen, von 0,5 mm Körpergröße bis zu 12 mm und eine optimale Sockeldichte ...
Smiths Interconnect
Nachdem Halbleiterchips aus dem Wafer geschnitten wurden, werden sie in verschiedenen Formaten wie BGA, QFP und anderen verpackt. IC-Testfassungen sind entscheidend, um die Qualität dieser verpackten Geräte durch elektrische Tests sicherzustellen, ...
Seiken Co., Ltd.
Da Geräte weiterhin schrumpfen und die Packungsdichte zunimmt, war die Nachfrage nach leistungsstarken Feinraster-Testlösungen noch nie so groß. Die Feinraster-IC-Sockel von Seiken sind darauf ausgelegt, diese Herausforderung zu meistern ...
Seiken Co., Ltd.
Die Kelvin-IC-Sockel von Seiken sind darauf ausgelegt, Vierleiter-Messungen (Kelvin-Verbindung) zu vereinfachen und bieten hochpräzise Niedrigwiderstandstests, die die Grenzen herkömmlicher Methoden übertreffen. Sie sind so konzipiert, ...
Seiken Co., Ltd.
Die nicht-magnetischen IC-Sockel von Seiken sind so konzipiert, dass sie stabile, störungsfreie Tests über eine Vielzahl von Gerätepaketen hinweg bieten, einschließlich der Typen mit Anschlussdrähten, ohne Anschlussdrähte und mit Kugelanschlüssen. ...
Seiken Co., Ltd.
Der HC-C IC-Sockel von Seiken ist für Hochstromanwendungen konzipiert und verfügt über eine proprietäre Blattfederstruktur, die eine außergewöhnliche Stromtragfähigkeit pro Anschluss bietet. Der HC-C ist für Stabilität und Zuverlässigkeit ...
Seiken Co., Ltd.
Leistungstransistor-Testsockel Bestückungstyp für Leiterplatten -Hochstrom-, Hochspannungstyp -Hochtemperatur-, Hochspannungstyp -Niedrigemissions-Typ -Kelvin-Kontakttyp Leistungstransistor-Testsockel sind für verschiedene Gehäuse ...
JC CHERRY INC.
... Leistungstransistor-Testfassungen für 3-Terminal-Gehäuse - Sn plattiert 105°C max - Für Leiterplattenmontage / mit Flansch - Hochstrom/Hochspannungstyp - Kelvin-Anschluss möglich Dieser Sockeltyp kann große Ströme mit einem Übergangswiderstand ...
JC CHERRY INC.
... Prüfbuchse für HU3PAK-Gehäuse - Testsockel, die die Leistung von SiC/GaN-MOSFETs maximieren - Kompatibel mit THB- und HTRB-Zuverlässigkeitstests - Interne Hochleistungskontakte gewährleisten Stabilität unter rauen Bedingungen - Kelvin-Anschluss ...
JC CHERRY INC.
... HU3PAK Scokets + Evaluation Test Board Set Sparen Sie Zeit, indem Sie Sockel und Leiterplatten nicht mehr separat entwerfen und beschaffen müssen - richten Sie Ihre Evaluierungsumgebung schnell ein. - Beschleunigt die Entwicklung und ...
JC CHERRY INC.
... Prüfsockel für Quarzbauelemente (Quarzoszillatoren, MEMS, usw.) Oben offener Typ Dieser Prüfsockel ist für den automatischen Aufbau von Geräten konzipiert und eignet sich ideal für die Leistungsbewertung von Komponenten wie z. B. Quarzoszillatoren. - ...
JC CHERRY INC.
... - Leistungstransistorsockel für 3-Terminal-Gehäuse + Evaluation Test Board Set - Hoher Strom und hohe Spannungsfestigkeit - SiC (Siliziumkarbid) / GaN (Galliumnitrid) MOSFET-Kompatibilität - Kelvin-Anschluss - Zuverlässigkeits-Test (THB ...
JC CHERRY INC.
... - Leistungstransistor-Testfassungen für TO-247 4L + Evaluierungs-Testplattenset - Hoher Strom und hohe Spannungsfestigkeit - SiC (Siliziumkarbid) / GaN (Galliumnitrid) MOSFET-Kompatibilität - Kelvin-Anschluss - Zuverlässigkeits-Test ...
JC CHERRY INC.
... Leistungstransistor-Testfassungen für 3-Klemmen-Gehäuse / Niederinduktivität Für Leiterplattenmontage / mit Flansch Hochtemperatur-/Hochspannungsausführung Kelvin-Anschluss möglich Breite Anschlüsse für Drain und Source (Collector und ...
JC CHERRY INC.
... Leistungstransistor-Testfassungen für 3-Terminal-Gehäuse Für Leiterplattenmontage/Nicht-Flansch Kelvin-Anschluss möglich Akzeptierte Gehäuse : TO-220,TO-3P,TO-66,TO-247,TO-254,TO-262,TO-264 (Einige Gehäuse sind möglicherweise nicht verwendbar, ...
JC CHERRY INC.
... Testfassungen für Leistungstransistoren Für TO-247 4L Mit Flansch PC Board Montage Typ Hochstrom, Hochspannungstyp Hochtemperatur, Hochspannung Typ Typ mit geringer Ausgasung Kelvin-Kontakt-Typ Die Testfassungen für Leistungstransistoren ...
JC CHERRY INC.
... Dieser robuste, hochpolige und steckkraftfreie PGA-Testfassung ist eine robuste Alternative zu spritzgegossenen Testfassungen. Die bearbeitete Bodenplatte, die Kurvenscheibe und die Deckplatte sind gestapelt und in einem Stahlaußenrahmen ...
Robson Technologies, Inc.
... Zuverlässige Burn-In- und HAST-Testsockel mit Klemmverschraubung sind eine leistungsstarke, kostengünstige und kundenspezifische Alternative zu spritzgegossenen Burn-In-Sockeln. Ausgelegt mit einem Klappdeckel mit z-Achsen-Druckplatte ...
Robson Technologies, Inc.
... Nichtschwimmende Basis-Testfassungen sind für die Prüfung von QFN und anderen bleifreien Geräten üblich. Es handelt sich um ein zweiteiliges Design, das Federstifte oder elastomere Kontaktsätze zwischen einem Buchsenboden und der Prüflingtasche ...
Robson Technologies, Inc.
... Das Design des Floating Base Test Sockets von RTI beinhaltet eine Floating Plate im Sockelkörper. Die schwimmende Platte ist ideal für BGA und andere gewölbte Gehäusetypen und ermöglicht die Ausrichtung der Lötkugeln oder Langraster-Array-Pads ...
Robson Technologies, Inc.
... High-Power-LEDs erzeugen aufgrund eines geringen elektrischen Leistungsbedarfs von nur wenigen Watt nicht nur eine hohe Lichtleistung. Die mit dieser Leistungsbelastung verbundene Wärmeabgabe führt jedoch zu einer erheblichen Erwärmung ...
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