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Nachdem Halbleiterchips aus dem Wafer geschnitten wurden, werden sie in verschiedenen Formaten wie BGA, QFP und anderen verpackt. IC-Testfassungen sind entscheidend, um die Qualität dieser verpackten Geräte durch elektrische Tests sicherzustellen, ...
Da Geräte weiterhin schrumpfen und die Packungsdichte zunimmt, war die Nachfrage nach leistungsstarken Feinraster-Testlösungen noch nie so groß. Die Feinraster-IC-Sockel von Seiken sind darauf ausgelegt, diese Herausforderung zu meistern ...
... Test- und Einbrennsockel für Quarzoszillatoren, MEMS, etc. Clam-shell, Hochfrequenz-Typ Rahmengröße 10x16mm / 0.39x0.63" Entwickelt für die manuelle Geräteeinstellung. Geeignet für Tests zur Bewertung von Merkmalen. Verwendet ...
... Hochfrequenzsockel für die Bewertung von LSI-Implementierungen Ideal für Fehleranalysen, Prototyping und Hochgeschwindigkeitssignaltests auf LSI-Evaluierungsboards und Produktions-PCBs. Unterstützt PAM4, PCIe Gen5, DDR5, USB 3.0 und ...
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