Messbuchse für IC

für Hochfrequenz

Da Geräte weiterhin schrumpfen und die Packungsdichte zunimmt, war die Nachfrage nach leistungsstarken Feinraster-Testlösungen noch nie so groß. Die Feinraster-IC-Sockel von Seiken sind darauf ausgelegt, diese Herausforderung zu meistern und Ingenieuren und Herstellern zu ermöglichen, die kompaktesten und komplexesten Geräte mit Zuversicht zu testen. Im Herzen unserer Lösung steht die tubeless Sondentechnologie von Seiken, die entwickelt wurde, um Raster so fein wie 130μm zu unterstützen. Dieses bahnbrechende Design bietet robusten, zuverlässigen Kontakt und behält gleichzeitig außergewöhnliche mechanische Festigkeit bei, selbst in den anspruchsvollsten Anwendungen moderner Testumgebungen. Unsere Feinraster-IC-Sockel sind ein unverzichtbares Werkzeug für die Entwicklung und Prüfung modernster Elektronik. - Unsere Sockel sind vollständig anpassbar, um nicht-magnetische, kundenspezifische mechanische und andere spezifische Anforderungen zu erfüllen und eine gleichbleibende Leistung über eine breite Palette spezialisierter Bedingungen hinweg zu gewährleisten. - Flexible, niedrigvolumige Fertigung ab nur einer Einheit. Interne Ingenieur- und Produktionsteams liefern maßgeschneiderte Lösungen mit Geschwindigkeit und Präzision. Anwendungsbeispiele: - Feinraster-Chips - Diskrete Komponenten, unter anderem Hauptmerkmale & Vorteile: - Entwickelt für Feinraster-Leistung: Anpassbar für nicht-magnetische, kundenspezifische mechanische und andere Anforderungen. - Unterstützt Raster so fein wie 130μm mit tubeless Sondentechnologie. - Robuster, zuverlässiger Kontakt und außergewöhnliche mechanische Festigkeit. - Flexible Produktion ab einer Einheit: Geeignet für Prototypen und Kleinserienfertigung. Verwandte Produkte: - Feinraster-Technologie: Die Feinraster-Sonden von Seiken bieten zuverlässige Tests für fortschrittliche Halbleitergeräte und unterstützen Raster so klein wie 130µm. - Feinraster-Sondenkarte: Entwickelt für anspruchsvolle Layouts wie WL-CSP und Kupfersäulengeräte, die Raster so klein wie 130µm handhaben können. - Sondenhalter (kundenspezifische Testvorrichtungen): Unverzichtbar für präzises Sondieren in der Prüfung elektronischer Komponenten und gewährleisten perfekte Ausrichtung und stabilen Kontakt. Technische Spezifikationen / Merkmale: - Unterstütztes Raster: so fein wie 130μm - Anpassbar für nicht-magnetische und mechanische Anforderungen - Flexible Produktion: ab einer Einheit - Robuster und zuverlässiger Kontakt - Geeignet für Feinraster-Chips und diskrete Komponenten