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... Die Sockel der M-Serie sind seit langem der Goldstandard für Zuverlässigkeit und Out-of-the-Box-Leistung bei Burn-in-Sockeln. Die hochwertigen Komponenten wurden im Laufe ihrer Lebensdauer immer weiter verfeinert und verbessert, um optimale ...
Smiths Interconnect
... Der Sockel der Q-Serie ist für mittlere bis große Gehäusegrößen erhältlich. Bei der Q-Serie handelt es sich um einen vollständig geformten Sockelkörper und Deckel, der für die strengen Anforderungen einer Vielzahl von beschleunigten Lebensdauertests ...
Smiths Interconnect
... Bei der R-Serie handelt es sich um eine nach oben offene Zuverlässigkeitssteckdose für beschleunigte Lebensdauertests. Mit den Versionen des offenen Designs mit Druckbefestigung, die als Drop-in-Ersatz für andere auf dem Markt befindliche ...
Smiths Interconnect
... TO-Gehäuse-Testbuchse Für TO-252/D-PAK Size12x24.9mm/0.47x0.98" Clamshell - Burn-in-Test - Kelvin-Kontakt (Option) - Kostengünstig - Betriebstemperatur : [Acceptable Device] NTD5862N(ON Semiconductor) RD3U080AAFRA(ROHM) IXTY14N60X2(IXYS) PG-TO252-3-11(Infineon) SUD50N06-09L(Vishay) GK,DK,SK ...
JC CHERRY INC.
... TO-Gehäuse Testbuchse Für TO-263/D2-PAK Size16x27.9mm/0.63x1.10" Clamshell - Burn-in-Test - Kelvin-Kontakt (Option) - Kostengünstig - Betriebstemperatur : [Acceptable Device] IRF5305STRLPBF(Infineon) VS-10TTS08S-M3 (Vishay) FDB28N30 ...
JC CHERRY INC.
... TO-Gehäuse-Testbuchse Für TO-263/D2-PAK Größe18x32.9mm / 0.71x1.30" Clamshell - Burn-in-Test - Kelvin-Kontakt (Option) - Nennstrom : 10A - Betriebstemperatur : [Zulässiges Gerät] FDB28N30 (ON Semiconductor) IRFS7437PbF (Infineon) STB11NK50ZT4 ...
JC CHERRY INC.
Sonderkontaktierungen wie Prüfköpfe, Prüfsockel oder Schnittstellenblöcke sind typische Produkte, in denen sich die Kernkompetenzen von FEINMETALL optimal vereinen. Umfangreiches Kontaktierungs-Know-how und die Verfügbarkeit einer breiten ...
Geeignet für Rastermaße ab 0,30 mm Ideal für BGA-/CSP-, LGA- und QFN-Gehäuse Verwendung für Standard-Labor- und Reliability-Anwendungen Standardleistung mit robusten Pins Low inductance Y-RED mit sehr geringer Eigeninduktivität Einfache ...
Yamaichi Electronics
... Dieser robuste, hochpolige und steckkraftfreie PGA-Testfassung ist eine robuste Alternative zu spritzgegossenen Testfassungen. Die bearbeitete Bodenplatte, die Kurvenscheibe und die Deckplatte sind gestapelt und in einem Stahlaußenrahmen ...
Robson Technologies, Inc.
... High-Power-LEDs erzeugen aufgrund eines geringen elektrischen Leistungsbedarfs von nur wenigen Watt nicht nur eine hohe Lichtleistung. Die mit dieser Leistungsbelastung verbundene Wärmeabgabe führt jedoch zu einer erheblichen Erwärmung ...
... Materialspezifikationen Formstücke: St 35 nach DIN 1629 Teil 3 (1.0308) Flansch: R-St 37-2 nach DIN 17100 (1.0112) Beschichtung: PTFE nach ASTM D 1457-78 Typ IV und V Technische Lieferbedingungen: nach DIN 2874 ...
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