- Leistungstransistorsockel für 3-Terminal-Gehäuse + Evaluation Test Board Set
- Hoher Strom und hohe Spannungsfestigkeit
- SiC (Siliziumkarbid) / GaN (Galliumnitrid) MOSFET-Kompatibilität
- Kelvin-Anschluss
- Zuverlässigkeits-Test (THB und HTRB) bereit
- Ein Satz von Sockeln und Platinen für verschiedene Leistungstransistoren, geeignet für Evaluierungstests.
- Kundenspezifisches Design und Herstellung sind auf Anfrage möglich, bitte kontaktieren Sie uns.
* Drähte mit Crimpkontakten sind nicht enthalten.
Bitte bereiten Sie diese selbst vor.
Akzeptierte Pakete: TO-220,TO-3P,TO-66,TO-247,TO-254,TO-262,TO-264
(Einige Pakete sind möglicherweise nicht verwendbar, bitte rufen Sie uns an)
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