- Leistungstransistor-Testfassungen für TO-247 4L +
Evaluierungs-Testplattenset
- Hoher Strom und hohe Spannungsfestigkeit
- SiC (Siliziumkarbid) / GaN (Galliumnitrid) MOSFET-Kompatibilität
- Kelvin-Anschluss
- Zuverlässigkeits-Test (THB und HTRB) bereit
- Ein Satz von Sockeln und Platinen für verschiedene Leistungstransistoren, geeignet für Evaluierungstests.
- Kundenspezifisches Design und Herstellung sind auf Anfrage möglich, bitte kontaktieren Sie uns.
* Drähte mit Crimpkontakten sind nicht enthalten.
Bitte bereiten Sie diese selbst vor.
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