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Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet. Es kombiniert die REM-Bildgebung mit einer Live-Analyse der Zusammensetzung Ihrer Proben zeitgleich in einem einzigen ...
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Hochauflösendes analytisches REM für routinemäßige Materialcharakterisierung, Forschung und Qualitätskontrolle im Submikrometerbereich Die 4. Generation des TESCAN MIRA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit einer FEG Schottky Elektronenemissionsquelle ...
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