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FIB/SEM-Mikroskop AMBER
für Analysefür MaterialforschungHochpräzision

FIB/SEM-Mikroskop
FIB/SEM-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
FIB/SEM
Anwendungsbereich
für Analyse, für Materialforschung
Weitere Eigenschaften
Hochpräzision, ultrahochauflösend

Beschreibung

Vielseitige nanoanalytische FIB-SEM zur Erweiterung Ihrer Materialforschungskapazitäten - Hochpräzise Mikroprobenpräparation - Ultrahochauflösende feldfreie SEM-Bildgebung und Nanoanalyse - Erweitertes Sichtfeld und einfache Navigation - Prozessautomatisierung an mehreren Standorten - Multimodale FIB-SEM-Tomographie - Benutzerfreundliche, modulare Software-Benutzeroberfläche - Attraktive optionale Pakete für verschiedene Anwendungen

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.