EinführungDas Qness 10/60 A+ verbindet automatisierte Vickers-, Knoop-, Brinell- und optional Rockwell-Prüfungen mit integrierter Mikroskopie in einem Laborgerät. Die A+ Variante bietet eine integrierte Probenbildkamera, präzises XYZ-Positionieren und mannlose, hochdurchsatzfähige Prüfabläufe. Die Integration in die Verder Scientific IoT-Plattform ermöglicht Remote-Monitoring, Live-Benachrichtigungen und automatische Software-Updates.
Produktvorteile- Großer Prüfkräftebereich von 0,25 g bis 62,5 kgf für Mikro- und Makroprüfungen
- Ready-to-Test-Paket mit ASTM + DAkkS zertifiziertem Vickers-Prüfdiamanten und Objektiven 5x/20x/50x
- Dynamischer 8‑Positionen Revolver für schnellen Werkzeug-/Objektivwechsel
- Qpix Control2 Software mit intuitiver 3D-Bedienung und integrierter Berichtserstellung
Hauptmerkmale- Modulare Freischaltung der Qpix INSPECT Mikroskopie- und Analysefunktionen
- Vollautomatische, mannlose Prüf- und Analysezyklen für hohen Durchsatz
- XYZ-Achsensteuerung mit direktem optischem Wegmesssystem (Tischpositionsgenauigkeit ±2 µm)
- Nur Variante A+: eingebaute Probenbildkamera zur automatischen Bildaufnahme (Sichtfeld 52 x 39 mm)
Revolutionäres optisches SystemVon QATM entwickeltes Objektivsystem mit Köhler-Beleuchtung und motorisierter Blendensteuerung liefert mikroskopische Bildqualität für Härteprüfungen und hochvergrößerte Dokumentation. Optisches Konzept unterstützt optimierte Brinell-Prüfungen mit speziellen XLED-Objektiven.
Mikroskopie & Analyse (Qpix INSPECT Funktionalität)- Phasenanalyse: automatische Dimensionierung von Bildobjekten mit Ergebnissen in Prozent oder nominellen Flächenwerten
- Partikelgrößenbestimmung: lineare und kreisförmige Schnittmethoden mit Tabellen- und Diagrammausgabe
- Schichtdickenmessung: semi-automatische Messung horizontaler, vertikaler und radialer Schichten
- Nahtmessung: standardisierte Schweißnahtbewertung mit Vorlagen für Kehldicke, Verstärkung, Eindringung, automatische Gut/Schlecht-Bewertung und Berichtserstellung
- Hochauflösende Bildgebung: HRI-Stitching für großflächige Dokumentation
Software & Konnektivität- Qpix Control2: PC-Software mit 3D-Bedienelementen, CAD-Kompatibilität und integrierter Berichtsgenerierung
- Verder Scientific IoT-Integration: ferngesteuertes Echtzeit-Monitoring, Live-Benachrichtigungen und automatische Software-Updates
- Qconnect / Industrie 4.0: Export von Berichten als PDF, XML, CSV, Q-DAS, LIMS, OPC UA und weitere Schnittstellen
Prüfverfahren & Kraftbereich- Unterstützte Verfahren: Vickers, Knoop, Brinell und optional Rockwell
- Elektronische, vollautomatische Kraftaufbringung und Prüfabläufe für Mikro- und Makrobereiche
Technische Daten- Prüfkräftebereich: Qness 10 A+: 20 gf – 10 kgf (0,196 – 98,07 N); Qness 60 A+: 0,25 gf – 62,5 kgf (0,00245 – 612,92 N)
- Prüfverfahren: Vickers, Knoop, Brinell, Rockwell (Option)
- Prüfsequenz: vollautomatisch, elektronische Kraftsteuerung
- Z-Achse: dynamische automatische Steuerung mit CAS (Collision Avoiding System)
- Z-Achsenhub: 150 mm (Option 260 mm)
- Schlupftiefe: 170 mm
- Werkzeugpositionen: 8‑fach motorisierter Revolver (max. 3 Härteprüfmodule, max. 7 Objektive)
- Kamerasystem: 5 MP CMOS Farbe USB 3.0 (Hauptkamera); Probenbildkamera (A+): 5 MP CMOS Farbe USB 3.0; Proben-FOV 52 x 39 mm
- Optisches System: aufrechtes Mikroskop mit Köhler-Beleuchtung; motorisierte Blendensteuerung
- Objektive: XLED 2x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x (XLED optimiert für Brinell)
- Sichtfeld (je nach Objektiv): ca. 0,074 x 0,055 mm (100x) bis 2,80 x 2,10 mm (XLED 2)
- Prüfamboss / XY-Tisch: automatische Kreuzschlitten-Tisch; Tischgröße Standard 150 x 120 mm (Option 300 x 120 mm)
- Verfahrwege (X/Y): Standard X 150 mm / Y 150 mm (Option X 300 mm)
- Positioniergenauigkeit (Tisch): ±2 µm
- Bedienelemente: Notausschalter, Startknopf, Joystick X/Y/Z
- Software: Qpix Control2 (PC)
- Max. Werkstückgewicht: 50 kg
- Gewicht Basisgerät: ca. 60 kg
- Lieferumfang: Vickers-Eindringkörper (ASTM + DAkkS); Objektive 5x, 20x, 50x (Ready-to-Test)
- Schnittstellen: USB 3.0 (plus USB für Kameras)
- Netzanschluss: 100–240 V ~ 1 / N / PE, 45–65 Hz