ICP-AES-Spektrometer ICP-AES700

optische EmissionCMOSfür die Pharmaindustrie

Produktübersicht
Das ICP-AES700 Vollspektrum-Lesegerät (induktiv gekoppeltes Plasma) führt qualitative, halbquantitative und genaue quantitative Analysen von Haupt-, Spur- und Ultratragelementen in flüssigen und festen Proben durch. Die Nachweisgrenzen erreichen bei vielen Elementen den Teile-pro-Milliarde-Bereich und ermöglichen routinemäßige Mehr-Element-Analysen in Industrie-, Umwelt-, Lebensmittel- und Materiallaboren.

PRODUKTMERKMALE

• Präzise Analyse: hohe optische Auflösung; Anti-Overflow Backshot Megapixel CCD/CMOS-Detektor mit hoher UV-Ansprechbarkeit, ohne UV- fluoreszenzbeschichtung, lange Lebensdauer; verschiedene Hintergrundkorrekturverfahren verfügbar.
• Stabil und zuverlässig: feste optische Komponenten; integriertes stabiles Argon-Massenstromregelungssystem; sichtbare Sicherheitsverriegelungen und Betriebsüberwachung.
• Einfacher Betrieb: abnehmbare konzentrische Quarz-Feuerfesteinheit mit automatischer Ausrichtung und Lichtquellenoptimierung.
• Kosteneffizienter Betrieb: kompakter Lichtkammeraufbau zur Reduzierung des Argonverbrauchs; technischer Support und Vor-Ort-Serviceoptionen verfügbar.
• Software: hierarchische Benutzeroberfläche für intuitive Bedienung; umfangreiche Methodendatenbank und Versionsverwaltung zur Methodenerhaltung und -wartung.

EINSATZBEREICHE
Materialanalyse
Elementgehaltsanalyse von Legierungen; Spurenanalyse in hochreinen Nichteisenmetallen und deren Legierungen; Spurenelemente in Metallmaterialien, Elektronikmaterialien, Stromversorgungsmaterialien und Edelmetallen; Nachweis gefährlicher Elemente in elektronischen Bauteilen, Verpackungen, Geschirr, Behältern und verwandten Materialien.

Lebensmittelanalyse
Prüfung auf Schwermetalle und andere Kontaminanten in Lebensmitteln; Analyse schädlicher Schwermetalle und Anionen in Wasser (Abwasser, Trinkwasser, Mineralwasser etc.).

Pharma- und Chemieanalyse
Bestimmung toxischer Elemente (Arsen, Quecksilber, Blei usw.) in Arzneimitteln, Kosmetika, Reinigungsmitteln und deren Verpackungen; Analyse von Verunreinigungen und Nährstoffen in Gesundheitsprodukten und biologischen Proben; Analyse hochreiner Rohstoffe und Zwischenprodukte in der chemischen und pharmazeutischen Industrie.

Boden- und Erzanalysen
Geologische und Umweltüberwachung: Schwermetalle und Spurenelemente in Böden und Düngemitteln; qualitative und quantitative Mineralanalyse; Analyse von Umwelt- und Agrarmustern für Forschung und Lehre.

Nachweisbereich
Das ICP-Emissionsspektrometer quantifiziert Metall- und ausgewählte Nichtmetallelemente von Spuren- bis zu Major-Konzentrationen und unterstützt qualitative, halbquantitative und quantitative Arbeitsabläufe.

PRODUKTANGABEN
Technische Daten der Einspritzvorrichtung:
Ausgangsspule: versilberte Hochfrequenzspule, Innendurchmesser 25 mm, 3 Windungen.
Dreifach-konzentrische Quarz-Feuerfesteinheit: Außendurchmesser 20 mm; verschiedene Torch-Modelle für unterschiedliche Anwendungen erhältlich.
Hocheffizienter importierter konzentrischer Zerstäuber: Außendurchmesser 6 mm, mehrere Modelle optional.
Perglitische Pumpe: vier Kanäle, zwölf Rollen, Geschwindigkeit einstellbar auf den benötigten Durchfluss.
Gesamter Argonverbrauch: <14 L/min.

Technische Daten des Spektrometers:
Gitter: konkaves Gitter, Vollspektrum-Vakuum-Optiksystem (Pxing-longge-Struktur).
Wellenlängenbereich: 165 nm – 900 nm.
Auflösung: < 0.007 nm (bei 200 nm).
Nachweissensitivität Beispiel: 2.0 mg/L (gemessen bei As 188.980 nm in 10000 mg/L Ca-Lösung).
Lichtkammer: Konstanttemperatur 34 ± 0.1 ℃.

Instrumentenkennwerte:
Messmodi: axiale und radiale Beobachtung (doppelte Beobachtungsrichtung).
Wiederholbarkeit (Kurzzeitstabilität): relativer Standardabweichung RSD < 0.5%.
Stabilität: RSD < 1% @ 2 Stunden.
Testgeschwindigkeit: CMOS-Einlesezeit 2 ms; Nachweisgrenzen der meisten Elemente innerhalb von ~20 s erreichbar (typisch 1 ppb–10 ppb).
Analysefähigkeit: quantitative Analyse von mehr als 70 Elementen.

Technische Daten des Detektionsgeräts:
Detektortyp: originaler CMOS-Detektor (Japan).
Quanteneffizienz: unbeschichtet, UV (200 nm) Quanteneffizienz >35%.

RF-Quellenparameter:
Eingangsspannung: AC 220 V.
Eingangsstrom: 20 A.
Ausgangsleistung: nominelle Ausgangskapazität >70%.
Ausgangsleistungsstabilität: < 0.05%.
Netzfrequenz: 27.12 MHz.
Frequenzstabilität: < 0.05%.

Nachweisgrenze der Elemente
Die Nachweisgrenzen erreichen für viele Elemente den Teile-pro-Milliarde-Bereich; die meisten Elemente weisen Nachweisgrenzen im Bereich 1 ppb–10 ppb auf.

Technische Spezifikationen

• Modell: ICP-AES700.
• Wellenlängenbereich: 165–900 nm.
• Auflösung: <0.007 nm (bei 200 nm).
• Detektor: hoch-UV-empfindlicher CMOS-Detektor (Japan), UV QE >35% bei 200 nm.
• Messmodi: axiale und radiale Beobachtung.
• Wiederholbarkeit: RSD <0.5% ; Stabilität RSD <1% @ 2 h.
• Testgeschwindigkeit: CMOS-Einlesung 2 ms; vollständige Elementerfassung in ~20 s.
• Analysekapazität: quantitative Analyse von >70 Elementen.
• Argonverbrauch: <14 L/min.
• RF-Eingang: AC 220 V, 20 A; Frequenz 27.12 MHz; Ausgangsstabilität <0.05%.