HauptanwendungDer EA-XF3500 ist ein Röntgenfluoreszenz-Analysator, der Proben mit Röntgenstrahlen anregt und die resultierenden charakteristischen Röntgenstrahlen detektiert, um qualitative und quantitative Ergebnisse für Silizium- und Aluminiumverbindungen zu liefern. Er wird in Industriezweigen wie Metallurgie, Bergbau und Baustoffen eingesetzt und häufig in Zementwerken zur Bestimmung von SiO2 und Al2O3 in Rohstoffen, Klinker, Kalkstein und Ton verwendet.
Hauptmerkmale- Integriertes Mikrocomputer-Design, kompakte Bauweise und industrietaugliche Ausführung.
- Großes LCD mit englischem Menü für einfache Bedienung.
- Schnelle Analyse: prozentuale Ergebnisse für SiO2 und Al2O3 in 60 s (typisch).
- Kontaktlose, nicht‑destruktive Messung: Proben bleiben unverändert und sind erneut prüfbar.
- Keine chemischen Reagenzien oder radioaktive Quelle erforderlich; niedriger Energieverbrauch und keine Emissionen.
- Großer Datenspeicher: Messergebnisse und Selbstprüfprotokolle abrufbar.
- Erfüllt GB/T19140 (allgemeine Grundsätze der Zement‑Röntgenfluoreszenzanalyse).
Technische Kennwerte- Analysebereich: SiO2, Al2O3 0,01%–100%.
- Analysegenauigkeit (Std.-Abw.): SiO2 ≤ 0,10 %; Al2O3 ≤ 0,08 %.
- Analysebreite: (max − min) ≤ 15 % für ein Element (z. B. Rohstoff SiO2 10%–25%, entsprechend kalibriert).
- Analysezeit: n × 60 s (n = 1–5).
- Betriebsbedingungen: Stromversorgung AC 200V–240V; Umgebungstemperatur 0–40℃; relative Luftfeuchte <85% (bei 30℃).
- Gesamtleistungsaufnahme: <30 W.
- Abmessungen (B×T×H): 468 × 368 × 136 mm.
- Gewicht: 13,8 kg.
Technische Daten- Modell / SKU: EA-XF3500
- Gemessene Elemente: Siliziumdioxid (SiO2) und Aluminiumoxid (Al2O3)
- Messbereich: 0,01%–100%
- Genauigkeit (Std.-Abw.): SiO2 ≤ 0,10 %; Al2O3 ≤ 0,08 %
- Typische Analysezeit: 60 s (konfigurierbar bis 5 × 60 s)
- Stromversorgung: AC 200V–240V
- Leistungsaufnahme: <30 W
- Betriebstemperatur: 0–40℃; Relative Luftfeuchte: <85% (bei 30℃)
- Abmessungen (B×T×H): 468 × 368 × 136 mm
- Gewicht: 13,8 kg