Messbuchse für Transistor-Outline GD26-QDPAK-x-S151X155
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Eigenschaften
- Anwendung
- für Transistor-Outline
Beschreibung
Prüfbuchse für QDPAK-Gehäuse
- Testsockel, die die Leistung von SiC/GaN-MOSFETs maximieren
- Kompatibel mit THB- und HTRB-Zuverlässigkeitstests
- Interne Hochleistungskontakte gewährleisten Stabilität unter rauen Bedingungen
- Kelvin-Anschluss (optional) ermöglicht schnelles Schalten und präzise Auswertung
Kontaktwiderstand: 50mΩ max
Strombelastbarkeit: 12A bei 25°C (zwischen Drain und Source)
Spannungsfestigkeit: DC2000V 1min bei 25°C
Isolationswiderstand: 500MΩmin bei DC500V
Betriebstemperatur: -40 bis +200°C (einschließlich Temperaturanstieg durch den elektrischen Strom)
Kompatibel mit: AIMCQ120R020M1T, AIMDQ75R016M1H, etc.
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Kataloge
GD26-QDPAK-x-S151X155
3 Seiten
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.