Prüfbuchse für R2PAK-Gehäuse
- Testsockel, die die Leistung von SiC/GaN-MOSFETs maximieren
- Kompatibel mit THB- und HTRB-Zuverlässigkeitstests
- Interne Hochleistungskontakte gewährleisten Stabilität unter rauen Bedingungen
- Kelvin-Anschluss (optional) ermöglicht schnelles Schalten und präzise Auswertung
Kontaktwiderstand: 50mΩ max
Strombelastbarkeit: 12A bei 25°C (zwischen Drain und Source)
Spannungsfestigkeit: DC2000V 1min bei 25°C
Isolationswiderstand: 500MΩmin bei DC500V
Betriebstemperatur: -40 bis +200°C (einschließlich Temperaturanstieg durch den elektrischen Strom)
Kompatibel mit: STHU32N65DM6AG, STHU36N60DM6AG, STHU47N60DM6AG (STMicroelectronics), etc.
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